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原子力-拉曼光譜聯(lián)用系統(tǒng)
原子力-拉曼光譜聯(lián)用系統(tǒng)

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俄羅斯

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儀器簡介:

NTEGRA Spectra

是一款獨特的集成了掃描探針顯微鏡、激光共聚焦/熒光顯微鏡和拉曼光譜儀的系統(tǒng)。其強大的TERS效應(yīng),可在得到拉曼光譜的同時獲得高達50nm的成像分辨率。

只有NTEGRA Spectra能在軟件、硬件等技術(shù)方面為集成Renishaw的拉曼光譜系統(tǒng)提供**的方案,以便用戶能在分子水平上用不同的技術(shù)手段來分析、研究樣品。這樣的集成,能讓用戶極大的提高工作效率,將更多的時間用于數(shù)據(jù)采集和分析,而無需為繁瑣的儀器操作而苦惱。所以,可以負責任的說:真正的集成是遠遠優(yōu)于簡單的組合的。

激光共聚焦顯微鏡/拉曼光譜儀系統(tǒng)

NTEGRA Spectra 系統(tǒng)集成了激光掃描共焦光譜儀、光學顯微鏡和常規(guī)的掃描探針顯微鏡。該系統(tǒng)能用于發(fā)光光譜和拉曼散射的三維成像、所有的SPM功能,包括納米壓痕、納米加工和納米刻蝕等。.

掃描探針顯微鏡

除了光學檢測外,NTEGRA Spectra還可使用SPM的方法來研究樣品,諸如:AFM、MFM、STM、SNOM、力譜等等。這樣獨特的集成了光學方法和掃描探針方法合二為一的系統(tǒng),為用戶完成復雜的實驗變成可能,用戶可從實驗中得到樣品的光學分布信息、化學性質(zhì)、力學性質(zhì)、電學性質(zhì)和磁學性質(zhì)等。

用超越激光衍射極限的系統(tǒng)來研究樣品

NTEGRA Spectra 在檢測樣品時,能提供超越激光光學衍射的光學分辨率。近場光學顯微鏡和TERS系統(tǒng)能讓用戶得到光學性質(zhì)分布圖(激光傳輸、散射和偏振等)的同時獲得拉曼散射光譜和高達50nm的XY方向分辨率。

技術(shù)參數(shù):

共聚焦顯微鏡光學模塊 正置或倒置光學顯微鏡觀測系統(tǒng)

可見光譜測量 (390-800nm)

激發(fā)光路中配置手動式格蘭-泰勒起偏棱鏡 390-1000nm

檢測光路中配置電動式格蘭-泰勒檢偏棱鏡 390-1000nm

三軸定位電動式1/2波片

光束分離器

可選配倏逝激發(fā)系統(tǒng)(用于TERS)

光學分辨率 XY: 200nm

Z:500nm

掃描模塊 **樣品質(zhì)量:1000g

**掃描范圍:100x100x25 um

XYZ三維全量程閉環(huán)控制掃描系統(tǒng)

XY方向非線性度:0.03 % (典型值)

Z方向噪音水平:<0.2 nm (典型值)

XY方向噪音水平:<0.5 nm(典型值)

共聚焦針孔 直徑0~1.5mm可調(diào),步進0.5 um

注:無論樣品是否透明,都可用我們的共聚焦顯微鏡在空氣或液體環(huán)境中對其進行研究。

拉曼光譜儀

光譜儀焦長 520 mm

激光器波長* 441, 488, 514, 532, 633 nm

雜散光抑制 10-5,(20nm 用632nm激光器 )

平場面積 28 mm x 10 mm

光譜分辨率 0.025 nm (1200 l/mm光柵**)

端口 1輸入,2輸出

光柵座 4孔轉(zhuǎn)盤(3 個光柵+“直接成像”模式用的反射鏡)

探測器 CCD:光譜響應(yīng)范圍:200–1000 nm,電冷裝置冷卻至–80°C,500nm時95% 量子效率

用于光子計數(shù)的APD***:光譜相應(yīng)范圍:400–1000 nm,暗計數(shù)=25/秒,提供高達1GHz計算速度的PCI 卡。 * 標準配置中包括一套488 nm激光器,其他波長激光器可選配

** 可選配其他光柵。小階梯光柵具有**的光譜分辨率

***可選用PMT

掃描近場光學顯微鏡

功能模式:剪切力成像/SNOM反射模式,透射模式,熒光模式(選配)

激光模塊 耦合裝置:X-Y-Z 定位器,定位精度1 um

V型槽光纖固定器

裝配40x物鏡

光纖傳輸系統(tǒng) KineFlexTM

光束衰減器:可配多種減光鏡

剪切力成像 樣品尺寸:**直徑100mm,**厚度15mm

XY二維樣品移動平臺:樣品定位范圍5x5mm,樣品定位精度5um

XYZ三維全量程閉環(huán)控制掃描系統(tǒng)

樣品掃描式 針尖掃描式

掃描范圍 100x100x25 um 100x100x7 um

非線性度 XY 0.03 %(典型值) <0.15%

噪音水平 Z <0.2 nm(典型值) 0.04nm(典型值),<=0.06nm

噪音水平 XY <0.5 nm(典型值) 0.2 nm(典型值),<=0.3 nm

石英音叉基頻 190 kHz

光纖孔徑 <100nm

可同時采集的數(shù)據(jù)通道 反射模式

透射模式/熒光模式

PMT 光譜響應(yīng)范圍:185-850 nm

靈敏度:3x1010,420 nm時

隔振系統(tǒng) 主動式:0.7-1000 Hz

被動式:大于1 kHz

掃描探針顯微鏡

功能模式:AFM(接觸+半接觸+非接觸)/側(cè)向力模式/相位成像模式/力調(diào)制模式/粘滯力成像/磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡/掃描電容顯微鏡/掃描開爾文探針顯微鏡/擴展電阻成像模式/刻蝕:AFM(力和電流)

樣品尺寸* **直徑100mm,**厚度15mm

掃描范圍 50x50x5 um

閉環(huán)控制系統(tǒng)** XYZ三維全量程閉環(huán)控制掃描系統(tǒng),采用電容傳感器

非線性度 XY <0.15%

噪音水平 Z 0.06 nm(典型值),<=0.07nm

噪音水平 XY 0.1 nm(典型值),<=0.2 nm (XY 50 um)

*掃描頭部可單獨使用,此時對樣品尺寸和重量無限制

**內(nèi)置的電容傳感器擁有極低的噪音水平,即使降到50x50 nm的區(qū)域也可以用閉環(huán)控制來掃描

主要特點:

AFM探針和激光光斑**的同步協(xié)調(diào)。AFM探針可在納米級的精度上定位于激光光斑中—在TERS中,這是必要的條件。在激光掃描和樣品掃描的6個軸中,全部采用全量程閉環(huán)控制系統(tǒng)。

高數(shù)值孔徑的光學物鏡和SPM系統(tǒng)緊密的集成在一起,讓系統(tǒng)的光學穩(wěn)定性達到****的高度—為長程和微弱的信號而設(shè)計。

反射模式的激光光路可用于激光共聚焦成像。

電冷至-70°C的CCD,用于光譜探測和成像。

也可選用APD來進行光子計數(shù)。

在激發(fā)通道和檢測通道中,用戶可靈活方便的配置偏光光路。

多功能的集成軟件控制系統(tǒng),所有的系統(tǒng)模塊包括AFM、光路系統(tǒng)和機械系統(tǒng)都由統(tǒng)一的軟件來控制。激光器、光柵、針孔等等,都可由軟件來切換或調(diào)節(jié)。

NT-MDT可根據(jù)用戶需求定制不同使用需求的TERS系統(tǒng)。

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產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價比

10分
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