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HCX09A薄膜熱物性測(cè)試儀

該儀器用于測(cè)試薄膜材料熱物性參數(shù)。薄膜物理指出當(dāng)物體很薄時(shí)，同樣材料薄膜狀態(tài)的物性與容積狀態(tài)的物性不一定相同，因此對(duì)薄膜物性的測(cè)量必須在薄膜狀態(tài)下進(jìn)行。根據(jù)物體表面溫度按余弦（或正弦）規(guī)律變化時(shí)的瞬態(tài)實(shí)驗(yàn)?zāi)Ｐ?。采用溫度波法?lái)測(cè)試薄膜材料的熱物性參數(shù)，由于薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態(tài)下，當(dāng)溫度振蕩頻率達(dá)到一定值后，利用樣品上、下表面溫度的相位差計(jì)算導(dǎo)溫系數(shù)或?qū)嵯禂?shù)。儀器專用于研究薄膜材料熱物性特性。

技術(shù)參數(shù)：

HCX09A薄膜熱物性測(cè)試儀

該儀器用于測(cè)試薄膜材料熱物性參數(shù)。薄膜物理指出當(dāng)物體很薄時(shí)，同樣材料薄膜狀態(tài)的物性與容積狀態(tài)的物性不一定相同，因此對(duì)薄膜物性的測(cè)量必須在薄膜狀態(tài)下進(jìn)行。根據(jù)物體表面溫度按余弦（或正弦）規(guī)律變化時(shí)的瞬態(tài)實(shí)驗(yàn)?zāi)Ｐ?。采用溫度波法?lái)測(cè)試薄膜材料的熱物性參數(shù)，由于薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態(tài)下，當(dāng)溫度振蕩頻率達(dá)到一定值后，利用樣品上、下表面溫度的相位差計(jì)算導(dǎo)溫系數(shù)或?qū)嵯禂?shù)。儀器專用于研究薄膜材料熱物性特性。

主要技術(shù)參數(shù)：

1．導(dǎo)熱系數(shù)范圍：0.05～20w/m•k

2．儀器實(shí)現(xiàn)數(shù)字化測(cè)溫，精度優(yōu)于0.2級(jí)。

3．測(cè)量結(jié)果，準(zhǔn)確度 ±3%

4．計(jì)量加熱功率可調(diào)節(jié)±1%。

5.樣尺寸要求：圓柱體￠15--30*5--30mm .

6.溫度和保護(hù)氣氛按用戶要求定制。

7.配接計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)試分析。