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薄膜硅涂布量測試儀離型膜硅涂布量測試儀越聯(lián)產(chǎn)
薄膜硅涂布量測試儀離型膜硅涂布量測試儀越聯(lián)產(chǎn)

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廣東

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廣東越聯(lián)儀器有限公司

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薄膜硅涂布量測試儀YL-X300

離型膜硅涂布量測試儀 越聯(lián)儀器生產(chǎn)

設(shè)備的測試原理:

YL-X300通過軟件程序控制,讓X射線發(fā)生路產(chǎn)生適合的X射線去激發(fā)測試薄膜材料中的S或者其他元素,被X射線激發(fā)后變?yōu)椴环€(wěn)定態(tài),高能層的電子會躍遷到空穴并同時釋放特定能量被探測器接收,因每個元素都有自已特定的能量特征線,通過探測器的識別,計算機軟件的計算,即可準(zhǔn)確識別該元素,并計算出含量。

YL-X300采用了大面積的晶體硅漂移探測器,分辨率能夠達到125eV,能分辨A(鋁)元素和Si(硅)元素。

設(shè)備優(yōu)勢及特點:

1、測試采用 射線熒光光譜原理,測試過程無需耗材;

2、光管垂直照射,硅元素性能得到更強激發(fā);

3、測試下限好,可準(zhǔn)確測量0.1g/m的涂硅量;’

4、采用大面積硅漂移探測器,測試結(jié)果極其準(zhǔn)確;

5、快速采用新的模型算法,大大提高了輕元素的測量穩(wěn)定性;

6、配置高清液晶顯示器,測試過程和測試結(jié)果一目了然;

7、設(shè)備集成多個usb接口。數(shù)據(jù)和通訊傳輸滿足多種要求;

8、空氣光路的內(nèi)部環(huán)境得到顯著優(yōu)化,大氣環(huán)境一樣可以直接測試;

9、一鍵測試,操作簡單智能,測試過程使用時間更短,結(jié)果更準(zhǔn)確。

應(yīng)用方向及領(lǐng)域:

1、各種薄膜、離型膜、淋膜!I等硅油涂布量的測定;

2、各種薄膜生產(chǎn)過程中Si、AI元素等比例量的測定;

3、電子產(chǎn)品S硫化物的殘留余量的測定;

4、電子產(chǎn)品保護膜硅油殘余量的測定。

尺寸 :

467×370×336(mm)

重量 :

40kg

適用范圍 :

薄膜、硅油涂布

樣品腔尺寸 :

310×248×124(mm)

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10分

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10分

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