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測(cè)量元素:Na~U
X射線管:銠(Rh)靶 /管電壓 50 kV / 管電流 1 mA
X射線熒光檢測(cè)器:SDD硅漂移檢測(cè)器
透過X射線檢測(cè)器:NaI(Ti)晶體
X射線導(dǎo)管:單毛細(xì)管 10μm / 100μm 無濾光片
光學(xué)圖像:樣品整體光學(xué)像及共軸放大圖像
樣品臺(tái)尺寸:XY:100mm×100mm
樣品倉(cāng):全真空模式/ **真空 300mm×300mm×80mm
信號(hào)處理:數(shù)值脈沖處理器(INCA處理器 )
定性分析:自動(dòng)定義譜峰/ KLM線標(biāo)注/ 譜峰查找/ 譜峰匹配
定量分析:無標(biāo)樣基本參數(shù)法/ 標(biāo)準(zhǔn)無標(biāo)樣基本參數(shù)法/ 標(biāo)準(zhǔn)文件匹配基本參數(shù)法/ 校正曲線/ 多層膜基本參數(shù)法/ 多點(diǎn)分析(*多5000)/ 多點(diǎn)結(jié)果輸出至Excel®
面掃描功能:透過X射線像/ 元素面分布圖/ 譜圖面掃描 /矩形面掃描/ 生成譜圖/ RGB合成/ 標(biāo)尺/ 線分析
其它功能:可同時(shí)開啟XGT-5200操作軟件
暫無數(shù)據(jù)!