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詳細(xì)介紹
JCI 155 靜電壓衰減測試儀可對固體,粉體和液體樣品進(jìn)行測試,直接將儀器放置在待測樣品表面, 軟件功能強(qiáng)大,可記錄電壓衰減曲線.美國國家宇航局(NASA)推薦使用.測試時(shí)間范圍從50ms到28hours, 響應(yīng)時(shí)間10ms.
詳細(xì)資料,請與IDEA SCIENCE聯(lián)系.
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