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光譜薄膜測(cè)試儀 Spectro-Refelctometer for Thin Film Measurement
應(yīng)用領(lǐng)域: IC fab， MEMS， LED， solar cell， photonics， nano technologies.
設(shè)備特性: Angstrom Sun 光譜反射儀廣泛用于各種透明、半透明薄膜測(cè)試.
•廣泛用于檢測(cè)各種薄膜的厚度， 包括oxide， nitride， photo resist， metal oxide， ITO.
•膜厚范圍可自20nm 到5000nm. 可選各種光譜范圍， 自UV 200nm到IR 1700nm.
•可具有高達(dá)12”直徑自動(dòng) mapping 功能，軟件功能強(qiáng)大.
技術(shù)參數(shù)：
光譜薄膜測(cè)試儀 Spectro-Refelctometer for Thin Film Measurement
應(yīng)用領(lǐng)域: IC fab， MEMS， LED， solar cell， photonics， nano technologies.
設(shè)備特性: Angstrom Sun 光譜反射儀廣泛用于各種透明、半透明薄膜測(cè)試.
•廣泛用于檢測(cè)各種薄膜的厚度， 包括oxide， nitride， photo resist， metal oxide， ITO.
•膜厚范圍可自20nm 到5000nm. 可選各種光譜范圍， 自UV 200nm到IR 1700nm.
•可具有高達(dá)12”直徑自動(dòng) mapping 功能，軟件功能強(qiáng)大.
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