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S1024DW大阱深探測器光譜儀
S1024DW大阱深探測器光譜儀

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型號

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產(chǎn)地

美國

樣本

暫無
英國豪邁國際有限公司上海代表處

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儀器簡介:

S1024DW大阱深探測器光譜儀采用1024像元光電二極管陣列探測器,用于需要高信噪比的測量。通過S1024DW可以觀察到小于0.00001個吸光度單位的變化,適合高亮度的應(yīng)用。

技術(shù)參數(shù):

S1024DW系列探測器選項

特性 S1024DW

S1024DWX

探測器:Hamamatsu S3903 線陣二極管

Hamamatsu S3904線陣二極管

像元: 1024像元

1024像元

像元尺寸:25 µm x 500 µm

25 µm x 2500 µm

阱深: 31,000,000 electrons

156,000,000 electrons

信噪比(全掃描) 2500:1

8000:1

A/D精度: 12 bit

16 bit

暗噪聲: 2 RMS

2 RMS

校正后線性度: >99%

>99%

S1024DW系列探測器附件

型號描述

L2探測器聚光鏡:附著在探測器上的圓柱狀透鏡,用于增加光的采集效率。

OFLV-DW:可變長通濾光片,在200-850 nm系統(tǒng)中消除高階效應(yīng)。

OFLV-350-DW:可變長通濾光片,在350-1000 nm系統(tǒng)中消除高階效應(yīng)。

規(guī)格

尺寸:153.4 mm x 105.2 mm x 65.6 mm (采用 ADC1000-USB A/D轉(zhuǎn)換器)

消除高次衍射濾光片:

帶通和長通濾光片

焦距:42 mm (入射); 68 mm (出射)

功耗:180 mA @ 5 VDC (S1024DW & DWX主通道) 140 mA @ 5 VDC (S1024DW & DWX輔助通道)

光學(xué)分辨率: ~0.3-10.0 nm FWHM (取決于光柵和入射狹縫)

探測器:線性二極管陣列

雜散光: 600 nm時 <0.05%; 435 nm時 <0.10%

探測器范圍:200-1100 nm

相對靈敏度:和USB4000的CCD探測器相比,S1024DW 在紫外段約為1/30,可見段約為1/80

光柵:14種光柵; UV到NIR

入射孔徑:5, 10, 25, 50, 100 or 200 µm寬狹縫或光纖(無狹縫)

光纖連接:SMA905連接到0.22孔徑單芯光纖

積分時間:31ms到65s

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焦距:42 mm (入射); 68 mm (出射)

功耗:180 mA @ 5 VDC (S1024DW & DWX主通道) 140 mA @ 5 VDC (S1024DW & DWX輔助通道)

光學(xué)分辨率:~0.3-10.0 nm FWHM (取決于光柵和入射狹縫)

探測器:線性二極管陣列

雜散光: 600 nm時 <0.05%; 435 nm時 <0.10%

探測器范圍:200-1100 nm

相對靈敏度:和USB4000的CCD探測器相比,S1024DW 在紫外段約為1/30,可見段約為1/80

光柵:

14種光柵; UV到NIR

入射孔徑:5, 10, 25, 50, 100 or 200 µm寬狹縫或光纖(無狹縫)

光纖連接:SMA905連接到0.22孔徑單芯光纖

積分時間:31ms到65s

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焦距:42 mm (入射); 68 mm (出射)

功耗:180 mA @ 5 VDC (S1024DW & DWX主通道) 140 mA @ 5 VDC (S1024DW & DWX輔助通道)

光學(xué)分辨率:~0.3-10.0 nm FWHM (取決于光柵和入射狹縫)

探測器:線性二極管陣列

雜散光:600 nm時 <0.05%; 435 nm時 <0.10%

探測器范圍:200-1100 nm

相對靈敏度:和USB4000的CCD探測器相比,S1024DW 在紫外段約為1/30,可見段約為1/80

光柵:

14種光柵; UV到NIR

入射孔徑:5, 10, 25, 50, 100 or 200 µm寬狹縫或光纖(無狹縫)

光纖連接:SMA905連接到0.22孔徑單芯光纖

積分時間:31ms到65s

主要特點:

靈敏度高達0.00001個吸光度單位

S1024DW大阱深探測器光譜儀采用1024像元光電二極管陣列探測器,用于需要高信噪比的測量。通過S1024DW可以觀察到小于0.00001個吸光度單位的變化,適合高亮度的應(yīng)用。

“X"選項:超大阱深探測器

S1024DW是標(biāo)準(zhǔn)阱深光譜儀,其二極管陣列探測器的信噪比為2500:1。S1024DWX具有更大的阱深,信噪比為8000:1。

理想的高光強應(yīng)用光學(xué)平臺

S1024DW應(yīng)用“USB"(也稱作“S")系列光譜平臺,可以根據(jù)具體不同的應(yīng)用來配置光學(xué)平臺。具體選項有入射孔徑、探測器附件、濾光片及光柵等等。S1024DW光學(xué)平臺的操作和USB4000光學(xué)平臺很相似。S1024DW光學(xué)平臺通過光纖采集光信號并色散到1024個高靈敏度光電二極管組成的陣列上,而在USB4000中采用的是3648像元的CCD陣列。

可集成的系統(tǒng),適合多點采樣

在S1024DW光譜儀的主通道上可以附加多至7個輔助通道用以多點采樣,可以用來擴展探測的波長范圍或監(jiān)視參考光譜。所有通道都通過一個ADC1000-USB A/D轉(zhuǎn)換器進行數(shù)據(jù)采集,每個通道輪流工作,總共8個光譜儀通道的數(shù)據(jù)同時采集。ADC1000-USB轉(zhuǎn)換器通過USB接口連接S1024DW到PC。可以分開購買S1024DW和ADC1000-USB,或同時作為一個整體(S1024DW-USB)購買。

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產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價比

10分
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