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x - 200提供了與其他品牌的高端分析儀相比，具有更高的分析速度及更高的檢測精度。

它使用了像x - 300這樣的高性能SDD，以及一個更標準的脈沖處理電子產(chǎn)品。x - 200具有與x - 300相同的高度優(yōu)化的x光管和SDD探測器。

由于更快的分析速度和更高的檢測精度，加上外形更加小巧，便攜，x - 200正迅速成為廢品處理和無損檢測的選擇。它可檢測所有合金家族，包括鋁合金。

對于地球化學應用，LODS大約比x - 300高1.5 x，它為土壤、環(huán)保、環(huán)境、勘探和采礦提供了相同的元素套件。

此外，為用戶提供的SciAps經(jīng)驗應用程序也可以測試其他類型的材料，并生成自己的校準模型。

分析儀采用基本參數(shù)法（fundamental parameters）、康普頓標準化法（Compton Normalization）及經(jīng)驗系數(shù)法（empirical calibration）校正。符合美國EPA Method 6200使用規(guī)范要求。