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FS500全譜直讀光譜儀品牌
聯(lián)宏科技產地
中國山東樣本
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一、概述:
FS500全譜直讀光譜儀廣泛應用于鋼鐵、有色金屬材料元素含量分析,可快速、準確、可靠測量幾十種元素,滿足研發(fā)、生產控制、產品檢驗等多方面需求。FS-500全譜火花直讀光譜儀適用于鐵,鋁,鋅,銅,鎂,鎳,鈦,鈷等十類金屬樣品的成分分析。
二、FS500全譜直讀光譜儀技術特點:
主機 | FS500全譜直讀光譜儀廣泛應用于鋼鐵、有色金屬材料元素含量分析,可快速、準確、可靠測量幾十種元素,滿足研發(fā)、生產控制、產品檢驗等多方面需求。 2 光學設計參數(shù)高,檢測性能好 2 檢測波長范圍達到130-800nm,無論從檢測下限到檢測上限都在CCD光譜領域處于好地位。 2 真空光室設計,保護光學器件,節(jié)省氬氣 2 節(jié)能設計,使用維護成本低 2 設計緊湊可靠,故障率低 2 PC控制的變頻高能預火花(HEPS) 2 測試速度快,只需30秒 2 使用、維護簡便,對人員專業(yè)要求低 |
光柵 | FS500全譜直讀光譜儀采用了業(yè)內CCD型儀器焦距500mm的光柵,獲得好的分辨率 改善測試準確性、重復性——焦距大,分辨率好,有效降低譜線干擾, 優(yōu)化光譜線的選擇——可使用更多性能優(yōu)異的譜線 |
探測器 | FS500全譜直讀光譜儀采用了新的CCD檢測器技術,配置業(yè)內像素數(shù)高、像素高度大的檢測器設計——像素數(shù)3648,像素高度200μm。 根據(jù)應用需要多達16塊CCD檢測器,增加儀器基體及元素分析升級的靈活性 ; 更高的像素設計獲得更優(yōu)的光譜分辨率, 更大的像素高度獲得更好的檢測強度。 |
真空光室 | FS500全譜直讀光譜儀采用了真空型光室,配置先進的間歇真空系統(tǒng)。光學器件密封在真空環(huán)境中,延長光學器件使用壽命。 精密加工工藝使光室密閉性能極為優(yōu)異,配置超高真空精密閥門,每天真空泵工作時間少于10分鐘。保留了傳統(tǒng)真空設計的所有優(yōu)點,完全避免了其能耗和輕微油污的缺點。 與沖氬氣光室對比: 首先,兩種設計都可以滿足普通用戶的基本測試需求。 真空光室設計是高端儀器配置,保證了儀器的高性能。廠商需要配置真空泵和附屬器件,成本較高,但性能較好。 沖氬氣設計是廠商降低成本的設計,廠商減少了真空系統(tǒng)成本,部分犧牲了性能,增加了用戶成本。用戶消耗需更多氬氣,周期性更換昂貴的耗材(凈化管)。 1. 分辨率 真空光室焦距更大,分辨率好。 沖氬氣光室為了減少沖氬氣空間,縮短的沖氬氣光室的焦距,一般小于200mm,分辨率較差。 2. 譜線透過率 真空紫外譜線(涉及典型元素C、P、S、B等)在真空中透過率更好 3. 光室清潔度 采用先進的間歇真空系統(tǒng),光室完全清潔無污染。 沖氬氣光室可能有氬氣帶入潮氣和顆粒物,污染脆弱的光柵和CCD。 4. 使用成本 采用先進的間歇真空系統(tǒng),真空泵每天僅工作十分鐘,電力消耗微乎其微。 沖氬氣光室消耗大量氬氣,并且周期性的更換耗材(凈化管)價格不菲。 |
激發(fā)臺 | FS500光譜儀的火花臺采取了密封式設計,整個火花臺的結構堅固,在儀器持續(xù)使用高溫火花激發(fā)的情況下保持火花臺結構的穩(wěn)定。 FS500光譜儀的火花臺通過結構設計上的變化改進了氬氣流的噴射方向,大大減少了火花激發(fā)殘留物在火花臺上的殘留,同時使火花臺的清潔和維護也變得更為簡單。 FS500光譜儀保留了開放式樣品臺的設計,使樣品的放置及分析更加簡便,樣品處理也比傳統(tǒng)光譜更加簡單。除電極間隙外,無特別調整要求 |
電路系統(tǒng) | FS500光譜儀的電路系統(tǒng)進行了全新的設計。在火花源及讀出系統(tǒng)上都運用了當今新的技術。 FS500光譜儀采用了同步實時數(shù)字讀出技術,與傳統(tǒng)的順序讀出技術相比,分析時間和數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性都會大大提高。 FS500光譜儀采用了全數(shù)字等離子火花光源技術。所有的激發(fā)參數(shù)可通過用戶界面由用戶根據(jù)實際需求自定義進行設置。 FS500光譜儀將電路系統(tǒng)與光學系統(tǒng)進行了完全的分離,將電路系統(tǒng)統(tǒng)一置于儀器光室的外部分,這樣的設計使儀器的散熱功能大大提升,同時使儀器的后續(xù)維護也十分便捷。 |
自校功能 | 在每次激發(fā)時,光學系統(tǒng)自動進行譜線掃描,確保接收的正確性,免除繁瑣的波峰掃描工作。 全譜技術自動描跡調整光路,激發(fā)樣品時,儀器自動識別每塊CCD上的特定譜線,與原存儲線進行對比,確定漂移位置,找出分析線當前的像素位置進行測定。消除因溫度/氣壓/震動等變化而產生的光譜漂移。全譜技術自動快速尋址,避免了費事費力的手動操作,也避免了人為誤差。 |
后期擴展 | FS500全譜直讀光譜儀基于CCD全譜測試技術,可更全面地測試各種金屬材料中中元素種類,儀器可以非常方便增加譜線,增加基體,在不添加硬件設施的情況下,即可實現(xiàn)多基體分析。 客戶可以在使用過程中根據(jù)實際需要在儀器上增加分析的基體及元素種類,這些工作可以在用戶現(xiàn)場方便完成。 |
操作便捷 | FS500全譜直讀光譜儀分析軟件用戶體驗好,簡單易學。無專業(yè)背景的操作人員經簡單培訓后,可操作軟件進行樣品測試和儀器校準。 同時FS500全譜直讀光譜儀儀器的設計處處體現(xiàn)了以人為本的設計理念,使儀器的使用和維護處處體現(xiàn)人性化的關懷。 |
三、FS500直讀光譜儀的技術參數(shù)
(一)光學系統(tǒng) :
巴邢-龍格架法
光柵焦距:500 mm.
波長范圍:130–800 nm
高性能全息衍射光柵,光柵刻線:3600條/mm
探測器:16塊高性能線陣CCD
像素分辨率:單個CCD 3,648 像素,zui大58,368 像素的分辨率(16 x 3,648 像素)
光室溫度:自動控制恒溫:34℃±0.5℃
**的漂移校正功能-得益于自動尋峰功能(度達到0.1像素)
全光學系統(tǒng)自動描跡
密閉的真空光學室可以避免灰塵、光線的干擾
(二)激發(fā)平臺 :
開放式樣品臺設計,滿足大樣品測試要求
4mm樣品臺分析間隙
“噴射電極”技術輕松應對小樣品及復雜幾何形狀樣品
低氬氣消耗,待機時:無須待機流量
定制異性樣品適配器
不同基體無須更換火花臺
優(yōu)化的雜質排出系統(tǒng)
牢固的銅制樣品臺散熱效果佳
(三)激發(fā)光源 :
全自動控制火花源
半導體控制放電激發(fā)
1 到 100 A等低氬氣消耗
使用便捷的樣品離子體電流
放電參數(shù)由密碼保護
特別的分析要求可有不同的激發(fā)參數(shù)
火花光源放電穩(wěn)定,不受供電系統(tǒng)波動的影響
激發(fā)參數(shù)由激發(fā)線和分析程序標定和控制
火花源可有多種參數(shù)設置
火花頻率: 200 到 to 1000 Hz (可控)
火花持續(xù)時間 10-10000 us (可控)
(四)光譜儀控制系統(tǒng)和數(shù)據(jù)讀出系統(tǒng) :
電子系統(tǒng)具有微處理器控制的多通道積分和數(shù)據(jù)系統(tǒng)采集功能
高速16位模數(shù)轉換器
ISP混合信號Flash微控制器100MHz
多種連接源
高速讀出及高速USB接口支持快速數(shù)據(jù)控制與處理系統(tǒng)
zui多16塊CCD模塊,由制造商根據(jù)應用情況選擇
(五)WinLab10 分析軟件 :
計算每種元素的校正曲線需考慮到各種基體(參考線)
智能化 : 用一組標樣即可完成標準化
便于操作的用戶圖形界面
創(chuàng)建或修改分析程序
常用的操作功能鍵
可選擇的輸出方式 ( 強度,強度比,未校正的濃度,校正后的濃度等)
可選擇的濃度單位 ( ppm, % )
通用標準化
微型標準化
校正元素間的干擾
自動標準化
標準偏差和相對標準偏差功能
合金類型鑒定(UNI, ISO, DIN, EN, ASTM, JIS, BS, 等)
標樣庫
物質庫
牌號鑒定
支持C當量或其他參數(shù)的計算
可標記超出工作曲線范圍的元素分析結果
具有根據(jù)分析時間或激發(fā)次數(shù)自動再校正功能
統(tǒng)計功能軟件
統(tǒng)計計算
可打印所有激發(fā)結果或是zui duo100次的激發(fā)平均結果,及其標準偏差和相對標準偏差
硬盤存儲數(shù)據(jù)便于今后的研究分析,可連接外部計算機或中心系統(tǒng)
(六)尺寸 :
尺寸(Dimension): PL93x W40 x H63 cm
重量(Weight): 約 100 Kg
暫無數(shù)據(jù)!