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面議型號
FLEX顯微分光光度計品牌
光量科技產(chǎn)地
北京樣本
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-波長準(zhǔn)確度:
-靈敏度:
-分辨率:
-重現(xiàn)性:
-儀器原理:
其他分散方式:
-測量時間:
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FLEX是CRAIC中兼具全能性和靈活性配置的儀器,它用光復(fù)用器Lightswitch把紫外-可見-近紅外光學(xué)器件,分光光度計數(shù)字成像及軟件都結(jié)合到一起。通過Lightswitch技術(shù),F(xiàn)LEX保留了大家熟知的CRAIC的易用性,同時能夠進(jìn)行紫外-可見-近紅外光譜測量,高分辨顯微成像,折射率測量等。
以一個有吸引力的價格為切入點,F(xiàn)LEX分光光度計利用測試技術(shù)來測量紫外-可見-近紅外范圍的透射,吸收,反射,輻射和熒光微區(qū)光譜。在獲取顯微光譜的同時,樣品可通過高分辨彩色數(shù)字成像系統(tǒng)或目鏡進(jìn)行成像。附加功能還包括顯微樣品的折射率及色度測量,及微區(qū)的薄膜厚度測量。
此外,F(xiàn)LEX分光光度計在獲得**成像質(zhì)量和光譜的同時,提供了**吸引力的價格。
? 紫外-可見-近紅外透射顯微光譜
? 紫外-可見-近紅外透射高分辨成像
? 透射,反射,偏振及熒光顯微分光光度計
? 透射,反射,偏振及熒光顯微成像
? 拉曼分光光度計
? 薄膜厚度測量
? 顯微樣品色度測量
? 結(jié)合rIQ進(jìn)行折射率測量
? 配備Lightblades技術(shù)
? 集成TE制冷CCD陣列探測器以提供超低噪聲和長期穩(wěn)定性
? 樣品溫度的精確控制
? 對樣品上小于一微米區(qū)域的校準(zhǔn)和變量測量
? 同時使用目鏡和數(shù)字成像的**成像功能
? 搭配Lambdafire光譜,成像控制及分析軟件。
? 專業(yè)的軟件模塊,包括統(tǒng)計分析,光譜數(shù)據(jù)庫,成像分析等
? 易于使用和維護(hù)
? 來源于顯微光譜領(lǐng)域?qū)<?/span>
紫外-可見-近紅外顯微光譜
高性價比顯微分光光度計
該儀器是一個完全集成的顯微光譜單元,光譜范圍包括從紫外到可見到近紅外??赏瑫r對采樣孔徑和樣品直接成像從而進(jìn)行快速精確的測量。20/30 PV搭載Lightblades技術(shù),即便尺寸在亞微米樣品的透射,反射,偏振,熒光光譜FLEX也能測量。CRAIC Technologies也是美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究所(NIST)可追溯分光光度計標(biāo)準(zhǔn)**認(rèn)可的來源。
暫無數(shù)據(jù)!