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逸出功能譜儀品牌
凡遠(yuǎn)光電產(chǎn)地
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逸出功能譜儀--**
逸出功能譜儀主要參數(shù)
測(cè)量原理 | PYS | ||
測(cè)量范圍（eV） | 3.40 - 7.50 | 4.00 - 9.54 | |
*小測(cè)量間隔（eV） | 0.01 | ||
重復(fù)性（標(biāo)準(zhǔn)偏差） | 0.02 | 0.015 | |
熱機(jī)時(shí)間（ Min） | 25 | ||
光斑尺寸（mm） | 1×2 | ||
可測(cè)樣品尺寸 | W60×H50 mm（Max） D10 mm（Max） | ||
測(cè)量環(huán)境 | 空氣、氮?dú)狻⒄婵?/span> | ||
可測(cè)樣品類型 | 粉末、薄膜、金屬材料、半導(dǎo)體材料、ITO、FTO、OLED有機(jī)光電材料、有機(jī)太陽(yáng)能材料、鈣鈦礦材料、富勒烯/石墨烯衍生物、碳納米材料、鋰電池材料等。 | 除IPS-3可測(cè)樣品范圍外，還包括：TCNQ衍生物材料、QD光電材料、無(wú)機(jī)太陽(yáng)電池材料、金屬氧化物/硫化物材料、水氧敏感型材料等。 | |
逸出功能譜儀-實(shí)測(cè)案例
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