參考價格
面議型號
Nanotrac wave II品牌
麥奇克/Microtrac產(chǎn)地
日本樣本
暫無誤差率：
≤1%分辨率：
重現(xiàn)性：
誤差≤1%儀器原理：
動態(tài)光散射分散方式：
背散射測量時間：
30-120秒測量范圍：
0.3nm-10μm看了納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II的用戶又看了
留言詢價
電話詢價
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
納米粒度測量——先進的動態(tài)光背散射技術(shù)
Zeta電位測量：Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨到見解，經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究，開發(fā)出新一代NANOTRAC WAVE II微電場分析技術(shù)，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統(tǒng)的比色皿，一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比，NANOTRAC WAVE II采用先進的“Y”型光纖探針光路設(shè)計，配置膜電極產(chǎn)生微電場，操作簡單，測量迅速，無需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，完全消除由于空間位阻（不同光學元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質(zhì)的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學信號的損失，結(jié)果準確可靠，重現(xiàn)性好。
測量原理：
粒度測量：動態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理
Zeta電位測量：膜電極設(shè)計與“Y”型探頭形成微電場測量電泳遷移率
分子量測量：水力直徑或德拜曲線
光學系統(tǒng)：
3mW780nm半導(dǎo)體固定位置激光器，通過梯度步進光纖直接照射樣品，在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號，無需校正光路
軟件系統(tǒng)：
先進的FLEX軟件提供強大的數(shù)據(jù)處理能力，包括圖形，數(shù)據(jù)輸出/輸入，個性化輸出報告，及各種文字處理功能，如PDF格式輸出, Internet共享數(shù)據(jù)，Microsoft Access格式（OLE）等。體積，數(shù)量，面積及光強分布，包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保護，電子簽名和指定授權(quán)等。
外部環(huán)境：
電源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz
環(huán)境要求：溫度，10-35°C
國際標準：符合ISO13321，ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008
主要特點：
? 采用先進的動態(tài)光散射技術(shù)，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法
? “Y”型光纖光路系統(tǒng)，通過藍寶石測量窗口，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布，在加載電流的情況下，與膜電極對應(yīng)產(chǎn)生微電場，測量同一體系的Zeta電位， 避免樣品交叉污染與濃度變化。
? 異相多譜勒頻移技術(shù)，較之傳統(tǒng)的方法，獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級，提高分析結(jié)果的可靠性。
? 可控參比方法（CRM），能精細分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜，確保分析的靈敏度。
? 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。
? 快速傅利葉變換算法（FFT，F(xiàn)ast FourierTransform Algorithm Method）,迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜，縮短分析時間。
? 膜電極設(shè)計，避免產(chǎn)生熱效應(yīng)，能準確測量顆粒電泳速度。
? 無需比色皿，毛細管電泳池或外加電極池，僅需點擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果
? 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾，諸如光路中不同光學元器件間傳輸?shù)膿p失，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質(zhì)的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度。
| 粒度分析范圍 | 0.3nm-10μm |
| 重現(xiàn)性 | 誤差≤1% |
| 濃度范圍 | 100ppb-40%w/v |
| 檢測角度 | 180° |
| 分析時間 | 30-120秒 |
| 準確性 | 全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子 |
| 測量精度 | 無需預(yù)選，依據(jù)實際測量結(jié)果，自動生成單峰/多峰分布結(jié)果 |
| 理論設(shè)計溫度 | 0-90℃，可以進行程序升溫或降溫 |
| 兼容性 | 水相和有機相 |
暫無數(shù)據(jù)！
Improve protein aggregate characterization in parenteral drug formulations優(yōu)化注射制劑中的蛋白質(zhì)聚集物表征 - 顆粒表征是許多
2019-04-24
摘要：以石斑魚為原料，使用Biochrom30+全自動氨基酸自動分析儀對其肌肉的氨基酸組成進行分析。結(jié)果表明石斑魚肌肉中氨基酸總量的質(zhì)量百分比為17753.114mg/100g，必需氨基酸(不含色氨酸
2019-09-16
顆粒狀材料和精細粉體在工業(yè)上有著廣泛的應(yīng)用，為了控制和優(yōu)化加工方法，必須對這些材料進行精確表征。表征方法既與顆粒的性質(zhì)（粒度、形態(tài)、化學成分等）有關(guān)，也與粉體的行為（流動性、密度、共混穩(wěn)定性、靜電性能
2019-11-11
單抗SBP是目前國內(nèi)生物制品中申報臨床試驗最多的品種，藥學研究證實與已上市RBP具有“質(zhì)量相似性”是其作為SBP開發(fā)的先決條件，如果 SBP的產(chǎn)品質(zhì)量明顯區(qū)別于原研產(chǎn)品，可以作為藥學研究存在重大缺陷，
2020-03-12
Panalytical E3x能譜儀樣本 Particle Metrix 粒度及Zeta電位樣本 Biolin表/界面化學分析儀器 大昌華嘉綜合樣本 美國Rudolph密度儀&折光儀樣本 日本Bel比表面和孔隙分析儀/化學吸附儀樣本 美國Microtrac粒度分析儀樣本 英國Freeman Technology 多功能粉末流動性測試儀樣本 
表面和界面張力在很多工業(yè)領(lǐng)域中起到重要作用，包括洗滌劑、涂料和油品回收等。當開發(fā)新的涂料配方或評估洗滌劑的質(zhì)量時會測試其表面張力。目前主要有三種方法測試表面和界面張力，其中兩種是基于力學法：Du No
ZetaView? Evolution 納米顆粒跟蹤分析儀旨在探索繽紛的納米世界全新ZetaView? Evolution帶您探索繽紛多彩的納米宇宙。這款為精準而生的系統(tǒng)，集粒徑、濃度、Ze
第八屆全國沉積學大會將于2025年4月23日-25日在北京國測國際會議中心舉行。會議時間：4月23-25日（22日報到）會議地點：北京國測國際會議中心大昌華嘉科學儀器歡迎您蒞臨 28&nbs
納米氣泡是液體環(huán)境中完全由氣體組成的一類特殊的納米顆粒。目前的研究已證實，納米氣泡在環(huán)境保護、農(nóng)業(yè)種植養(yǎng)殖、工業(yè)清洗、醫(yī)美等領(lǐng)域有非常大的應(yīng)用潛力，相關(guān)行業(yè)的研究熱度也很高?？焖?、準確、全面的納米氣泡
半導(dǎo)體行業(yè)中硅和其他晶圓的接觸角測量用于評估清潔度、表面處理均勻性和光刻膠粘附性。晶圓的直徑通常在4英寸至12英寸之間。理想情況下，晶圓上的接觸角測量可以通過自動定位整個晶圓來完成，而無需用戶干預(yù)。對
作者：Susanna Laurén，Biolin Scientific水層破散測試是在工業(yè)環(huán)境中檢查表面清潔度的常用方法。測試的主要目的是評估表面是否為下一個工藝步驟做好了準備，最典型的是涂層應(yīng)用。然
納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II的工作原理介紹？納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II的使用方法？納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II多少錢一臺？納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II使用的注意事項納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II的說明書有嗎？納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II的操作規(guī)程有嗎？納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II的報價含票含運費嗎？納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II有現(xiàn)貨嗎？納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II包安裝嗎？
移動端
工商已核實
