在生產(chǎn)太陽能電池的過程中,磨粉漿是線鋸切割過程中必不可缺的耗材。馬爾文公司的Sysmax FPIA-3000顆粒成像分析儀能夠快速高效地實現(xiàn)顆粒定量分析,監(jiān)測磨粉漿的損耗,使其在不影響產(chǎn)品質(zhì)量的情況下得到最大限度的循環(huán)利用。
在光伏、半導(dǎo)體以及微電子企業(yè)中,多重線鋸技術(shù)被廣泛應(yīng)用于切割硅晶板。為提高效率,降低成本,減少廢料,磨粉漿的循環(huán)利用勢在必行,因此需要精密監(jiān)控漿液中由切割過程形成顆粒的濃度,防止產(chǎn)品質(zhì)量的下降。漿液中形成的固體顆粒通過離心分離去除后,磨粉漿即可被安全的循環(huán)使用。
顆粒成像儀FPIA-3000能夠?qū)崟r分析漿液樣品中的顆粒,其內(nèi)置的CCD成像最高可同時捕捉到360000個顆粒。提供的實驗結(jié)果包括粒徑、粒形、分布與顆粒數(shù)等統(tǒng)計參數(shù),并具備易于操作,自動成像技術(shù)重現(xiàn)性好,分析結(jié)果完備的特點。僅需按下啟動按鈕,2分鐘后即能得到分析結(jié)果。 FPIA-3000成像儀可以為0.8至300微米的顆粒提供高質(zhì)量的成像,能適應(yīng)日常監(jiān)測的需求,可靠地表征顆粒的粒徑分布與粒形分布,是表征乳液和懸液的理想方案。
粒形信息是分析大量顆粒之后得到的統(tǒng)計值。因此粒徑與粒形數(shù)據(jù)通常需要將所有顆粒成像的實驗數(shù)據(jù)進一步分析處理后得到。 更多詳細信息,請訪問www.malvern.com.cn
馬爾文與馬爾文儀器是馬爾文儀器公司的注冊商標。
在光伏、半導(dǎo)體以及微電子企業(yè)中,多重線鋸技術(shù)被廣泛應(yīng)用于切割硅晶板。為提高效率,降低成本,減少廢料,磨粉漿的循環(huán)利用勢在必行,因此需要精密監(jiān)控漿液中由切割過程形成顆粒的濃度,防止產(chǎn)品質(zhì)量的下降。漿液中形成的固體顆粒通過離心分離去除后,磨粉漿即可被安全的循環(huán)使用。
顆粒成像儀FPIA-3000能夠?qū)崟r分析漿液樣品中的顆粒,其內(nèi)置的CCD成像最高可同時捕捉到360000個顆粒。提供的實驗結(jié)果包括粒徑、粒形、分布與顆粒數(shù)等統(tǒng)計參數(shù),并具備易于操作,自動成像技術(shù)重現(xiàn)性好,分析結(jié)果完備的特點。僅需按下啟動按鈕,2分鐘后即能得到分析結(jié)果。 FPIA-3000成像儀可以為0.8至300微米的顆粒提供高質(zhì)量的成像,能適應(yīng)日常監(jiān)測的需求,可靠地表征顆粒的粒徑分布與粒形分布,是表征乳液和懸液的理想方案。
粒形信息是分析大量顆粒之后得到的統(tǒng)計值。因此粒徑與粒形數(shù)據(jù)通常需要將所有顆粒成像的實驗數(shù)據(jù)進一步分析處理后得到。 更多詳細信息,請訪問www.malvern.com.cn
馬爾文與馬爾文儀器是馬爾文儀器公司的注冊商標。