為深入研究探索顆粒特性及表征方法,歷時(shí)半年的馬爾文2009顆粒表征學(xué)術(shù)研討會(huì)全國(guó)巡講分別在南京,武漢,廣州,西安,大連和成都成功舉辦. 研討會(huì)每到之處都得到逾百位各高校,科研單位和企業(yè)新老客戶的熱情參與.
馬爾文2009顆粒表征學(xué)術(shù)研討會(huì)系列由馬爾文儀器(中國(guó))總經(jīng)理秦和義先生和納米技術(shù)專家寧輝博士主講, 內(nèi)容匯集有關(guān)粒度測(cè)量，顆粒圖像分析，ZETA電位及絕對(duì)分子量測(cè)量和樣品制備與分散等最前沿的技術(shù)原理與應(yīng)用, 更首次介紹了先進(jìn)的GPC/SEC對(duì)高分子分子量及結(jié)構(gòu)的表征這一全新內(nèi)容.答疑解惑環(huán)節(jié)中,與會(huì)嘉賓和馬爾文公司的技術(shù)專家充分交流,熱烈討論. 儀器實(shí)樣演示更使大家現(xiàn)場(chǎng)體驗(yàn)到全方位測(cè)量樂(lè)趣,廣受歡迎.
馬爾文儀器未來(lái)還將在更多城市舉辦各種形式,內(nèi)容豐富的科技及學(xué)術(shù)研討活動(dòng), 敬請(qǐng)留意馬爾文中國(guó)網(wǎng)站:www.malvern.com.cn
同時(shí)再次感謝大家的關(guān)注和支持!
馬爾文2009顆粒表征學(xué)術(shù)研討會(huì)系列由馬爾文儀器(中國(guó))總經(jīng)理秦和義先生和納米技術(shù)專家寧輝博士主講, 內(nèi)容匯集有關(guān)粒度測(cè)量，顆粒圖像分析，ZETA電位及絕對(duì)分子量測(cè)量和樣品制備與分散等最前沿的技術(shù)原理與應(yīng)用, 更首次介紹了先進(jìn)的GPC/SEC對(duì)高分子分子量及結(jié)構(gòu)的表征這一全新內(nèi)容.答疑解惑環(huán)節(jié)中,與會(huì)嘉賓和馬爾文公司的技術(shù)專家充分交流,熱烈討論. 儀器實(shí)樣演示更使大家現(xiàn)場(chǎng)體驗(yàn)到全方位測(cè)量樂(lè)趣,廣受歡迎.
馬爾文儀器未來(lái)還將在更多城市舉辦各種形式,內(nèi)容豐富的科技及學(xué)術(shù)研討活動(dòng), 敬請(qǐng)留意馬爾文中國(guó)網(wǎng)站:www.malvern.com.cn
同時(shí)再次感謝大家的關(guān)注和支持!
