為鼓勵顆粒學科科研工作者做出更多的創(chuàng)新性成果,提高我國顆粒學學術水平,促進學科發(fā)展,美國麥克儀器公司和《顆粒學報》決定共同設立“麥克儀器優(yōu)秀論文獎”。

    美國麥克儀器公司成立于1962年，自公司成立以來一直致力于比表面積與孔隙度分析、壓汞分析技術、沉降式粒度表征、各種密度測試，化學吸附分析與微型催化反應研究眾多領域的科學研究，不僅為廣大科研學者提供先進的、精密的檢測儀器，還一直資助顆粒學科研究，包括資助科研課題、資助學者參加學術會議、設立論文獎項、贊助顆粒學術會議等多種形式，為顆粒粉體行業(yè)做出杰出貢獻。

    該獎項的評選辦法如下：

    獎勵范圍及標準

    1.本獎的評選范圍為：在顆粒表征、顆粒制備與處理、納米及超微顆粒、流態(tài)化與多相流、氣溶膠等領域的基礎研究或應用基礎研究工作中取得的成果，并在PARTICUOLOGY（顆粒學報）期刊上以論文形式正式發(fā)表的論文。.

    2.參與評選的論文為：各次評獎年前4年發(fā)表在《顆粒學報》上的所有文章，如2012年參與評選的是2008年第一期至2011年第6期發(fā)表的文章。

    3.本獎將以SCI數據庫為依據，根據所有參選論文的被引用次數順序選出候選文章。

    4.本獎勵每兩年頒發(fā)一次，每次獎勵優(yōu)秀論文2篇，獎勵金額為每篇5000美元。本項獎勵通過通訊作者頒發(fā)給獲獎論文的研究團隊。

    獎勵的評審與頒發(fā)

    1.獎項的評選工作由中國顆粒學會負責組織。

    2.《顆粒學報》編輯部根據所有參選論文在Web of Science數據庫中被引用次序的排序提出10篇候選文章，由該獎獨立的評審委員會評審并提出獲獎文章。

    3.評選結果經中國顆粒學會和麥克儀器公司確認后正式公布。

    4.獎勵的頒發(fā)儀式將在當屆的中國顆粒學會學術年會上舉行，屆時將頒發(fā)獎勵證書和獎金。

    注：

    本獎項自2012年正式啟動，獎勵周期為10年。

    中國顆粒學會和麥克儀器公司保留該條例的最終解釋權。

    可參考顆粒學會網站：http://www.csp.org.cn/view.ehtm?id=610&tag=5

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