常用的粒度測(cè)試方法有篩分法、顯微鏡（動(dòng)態(tài)/靜態(tài)圖象）法、沉降法、光阻法、電阻法、激光法、電子顯微鏡法、透氣法、動(dòng)態(tài)光散射法、X射線小角散射法等。

    1) 篩分法：優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低、常用于大于40 μm的樣品。缺點(diǎn)：結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。

    2) 顯微鏡（圖像）法：優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀、可進(jìn)行形貌分析，適合分布窄（最大和最小粒徑的比值小于10：1）的樣品。缺點(diǎn)：代表性差，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩，無法分析小于1 μm的樣品。

    3) 沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測(cè)試范圍較大。缺點(diǎn)：測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)，操作比較繁瑣。

    4) 電阻法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，可測(cè)顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。缺點(diǎn)：不適合測(cè)量小于0.1 μm的顆粒樣品，對(duì)粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩。

    5) 激光法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，測(cè)試速度快，測(cè)試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可進(jìn)行在線測(cè)量和干法測(cè)量。缺點(diǎn)：結(jié)果受分布模型影響較大，儀器造價(jià)較高，分辨力低。

    6) 電子顯微鏡法：優(yōu)點(diǎn)：適合測(cè)試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒，分辨力高，可進(jìn)行形貌和結(jié)構(gòu)分析。缺點(diǎn)：樣品少，代表性差，測(cè)量易受人為因素影響，儀器價(jià)格昂貴。

    7) 光阻法：優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試便捷快速，可測(cè)液體或氣體中顆粒數(shù)，分辨力高。缺點(diǎn)：不適用粒徑<1μm的樣品，進(jìn)樣系統(tǒng)比較講究，僅適合塵埃、污染物或已稀釋好的藥物進(jìn)行測(cè)量，對(duì)一般粉體用的不多。

    8) 透氣法：優(yōu)點(diǎn)：儀器價(jià)格低，不用對(duì)樣品進(jìn)行分散，可測(cè)磁性材料粉體。缺點(diǎn)：只能得到平均粒度值，不能測(cè)粒度分布；不能測(cè)小于5μm細(xì)粉。

    9) X射線小角散射法：用于納米級(jí)顆粒的粒度測(cè)量。

    10) 光子相關(guān)譜法(動(dòng)態(tài)光散射法)：用于納米級(jí)顆粒的粒度測(cè)量。