中國粉體網(wǎng)8月22日訊  由秦皇島太極環(huán)納米制品公司出資，鋼鐵研究總院粉末冶金研究室高級工程師鄭毅，經(jīng)過兩年的潛心研制與改進，國內(nèi)首款X射線小角散射測試儀日前研制成功。該測試儀依據(jù)國家和國際標準技術(shù)規(guī)范，可以進行1—300nm的數(shù)量級范圍內(nèi)的納米顆粒粒度分布測試，主要應用于金屬、陶瓷、涂料等工業(yè)領(lǐng)域。其測試精度接近或超過進口設(shè)備，價格比同類進口儀器降低了2/5左右。
    
    目前，可用于測量納米顆粒粒度分布的測試儀器還包括電鏡、BET 比表面儀與納米粒度儀。X射線小角散射方法有明顯的技術(shù)優(yōu)勢，與電鏡相比，X射線小角散射法制樣簡單，樣品測量種類多樣，數(shù)據(jù)的統(tǒng)計代表性優(yōu)良。據(jù)介紹，BET比表面測試的方法無法給出納米粒度分布的測試結(jié)果，激光法測試的納米粒度儀器需要對樣品進行很好的分散，否則測量結(jié)果為顆粒團聚體的粒度分布，而X射線小角散射儀測定結(jié)果為一次顆粒的粒度分布，即使納米顆粒不能很好的分散，測試結(jié)果受顆粒團聚效應的影響也不大。