美國(guó)麥奇克有限公司經(jīng)過(guò)近半個(gè)世紀(jì)的不斷探索，開(kāi)發(fā)出一代又一代領(lǐng)先行業(yè)的激光粒度分析儀。2007年，全新專業(yè)級(jí)S3500系列激光粒度分析儀以 其劃時(shí)代的革新技術(shù)，配合Bluewave專利，拓展測(cè)量下限至0.01μm。它采用現(xiàn)代模塊式設(shè)計(jì)，內(nèi)置高能量，高穩(wěn)定性，超長(zhǎng)壽命的固體二極管激光 器，專利三激光光源和雙鏡頭傅利葉接受透鏡組合，無(wú)需掃描，平行通道實(shí)時(shí)收集所有散射光信號(hào)，提供全部的，持續(xù)一致的光強(qiáng)累計(jì)以滿足最高靈敏度得粒度分 析。對(duì)非球形顆粒的米氏理論修正，保證每一次樣品分析的測(cè)量精度。完全符合甚至部分超過(guò)ISO 13320-1 激光粒度分析國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)及21 CFR PART 11 安全要求，并被榮幸地指定為NIST標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)認(rèn)證儀器。
美國(guó)Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析儀，原理上采用經(jīng)典靜態(tài)光散射技術(shù)和全程米氏理論處理，利用現(xiàn)代模塊式設(shè)計(jì)理念，使用獲得專利的三激光光源技術(shù)，配備超大角度雙鏡頭檢測(cè)系統(tǒng)，以對(duì)數(shù)方式排列151個(gè)高靈敏度檢測(cè)單元，無(wú)需掃描，平行通道實(shí)時(shí)接受散射光信息，提供準(zhǔn)確可靠的測(cè)量信息。多種分散方式可選，干法與濕法測(cè)量之間的轉(zhuǎn)換，系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別，方便快捷。
Microtrac S3500系列產(chǎn)品分為以下8個(gè)型號(hào)。
藍(lán)波2型(BWDL)):濕法測(cè)量范圍：0.01-2,800μm；干法測(cè)量范圍：0.25-2,800μm
藍(lán)波1型(BWSL)):濕法測(cè)量范圍：0.01-2,000μm；干法測(cè)量范圍：0.25-2,000μm
增強(qiáng)型(Enhanced):濕法測(cè)量范圍：0.02-2,800μm；干法測(cè)量范圍：0.25-2,800μm
擴(kuò)展型(eXtended):濕法測(cè)量范圍：0.02-2,000μm；干法測(cè)量范圍：0.25-2,000μm
特殊型(speciaL) :濕法測(cè)量范圍：0.09-1,500μm；干法測(cè)量范圍：0.25-1,500μm
標(biāo)準(zhǔn)型(Standard):濕法測(cè)量范圍：0.25-1,500μm；干法測(cè)量范圍：0.25-1,500μm
高端型(High) :濕法測(cè)量范圍：2.75-2,800μm；干法測(cè)量范圍：2.75-2,800μm
基本型(Basic) :濕法測(cè)量范圍：0.70-1,000μm；干法測(cè)量范圍：0.70-1,000μm
Microtrac S3500激光粒度分析儀主要特點(diǎn)：
﹡ 專利Tri-Laser激光系統(tǒng), 完全消除了不同波長(zhǎng)光源對(duì)顆粒散射光分布“連接點(diǎn)”的影響和多次米氏理論（Mie Theory）數(shù)學(xué)處理的誤差（米氏理論處理與波長(zhǎng)有關(guān)）。
﹡ 專利“Bluewave”激光技術(shù)，拓展測(cè)量下限至0.01μm。
﹡ 無(wú)需掃描，同步接受全量程散射光信號(hào)，保證分析結(jié)果的高重現(xiàn)性及全量程范圍的高分辨率。
﹡ 首家引進(jìn)“非球形”顆粒概念對(duì)米氏理論計(jì)算的校正因子，內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫(kù)，提高顆粒粒度分布測(cè)試的準(zhǔn)確性。
﹡ 系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)光，內(nèi)置輔助光源用于檢驗(yàn)和校正檢測(cè)器的靈敏度。
﹡ 多種樣品分散系統(tǒng)可供選擇，各種分散系統(tǒng)之間的轉(zhuǎn)換簡(jiǎn)單方便，結(jié)果穩(wěn)定一致。
﹡ 現(xiàn)代模塊式設(shè)計(jì)，可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用需要允許選擇儀器的配置，以滿足將來(lái)的任何需要。
﹡ 數(shù)據(jù)處理靈活方便，體積分布，數(shù)量分布和強(qiáng)度分布，微分與累計(jì)百分比以及其他綜合報(bào)告形式任意組合，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)兼容性強(qiáng)。
﹡ NIST(National Institute of Standards & Technology)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)指定認(rèn)證儀器。
美國(guó)Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析儀，原理上采用經(jīng)典靜態(tài)光散射技術(shù)和全程米氏理論處理，利用現(xiàn)代模塊式設(shè)計(jì)理念，使用獲得專利的三激光光源技術(shù)，配備超大角度雙鏡頭檢測(cè)系統(tǒng)，以對(duì)數(shù)方式排列151個(gè)高靈敏度檢測(cè)單元，無(wú)需掃描，平行通道實(shí)時(shí)接受散射光信息，提供準(zhǔn)確可靠的測(cè)量信息。多種分散方式可選，干法與濕法測(cè)量之間的轉(zhuǎn)換，系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別，方便快捷。
Microtrac S3500系列產(chǎn)品分為以下8個(gè)型號(hào)。
藍(lán)波2型(BWDL)):濕法測(cè)量范圍：0.01-2,800μm；干法測(cè)量范圍：0.25-2,800μm
藍(lán)波1型(BWSL)):濕法測(cè)量范圍：0.01-2,000μm；干法測(cè)量范圍：0.25-2,000μm
增強(qiáng)型(Enhanced):濕法測(cè)量范圍：0.02-2,800μm；干法測(cè)量范圍：0.25-2,800μm
擴(kuò)展型(eXtended):濕法測(cè)量范圍：0.02-2,000μm；干法測(cè)量范圍：0.25-2,000μm
特殊型(speciaL) :濕法測(cè)量范圍：0.09-1,500μm；干法測(cè)量范圍：0.25-1,500μm
標(biāo)準(zhǔn)型(Standard):濕法測(cè)量范圍：0.25-1,500μm；干法測(cè)量范圍：0.25-1,500μm
高端型(High) :濕法測(cè)量范圍：2.75-2,800μm；干法測(cè)量范圍：2.75-2,800μm
基本型(Basic) :濕法測(cè)量范圍：0.70-1,000μm；干法測(cè)量范圍：0.70-1,000μm
Microtrac S3500激光粒度分析儀主要特點(diǎn)：
﹡ 專利Tri-Laser激光系統(tǒng), 完全消除了不同波長(zhǎng)光源對(duì)顆粒散射光分布“連接點(diǎn)”的影響和多次米氏理論（Mie Theory）數(shù)學(xué)處理的誤差（米氏理論處理與波長(zhǎng)有關(guān)）。
﹡ 專利“Bluewave”激光技術(shù)，拓展測(cè)量下限至0.01μm。
﹡ 無(wú)需掃描，同步接受全量程散射光信號(hào)，保證分析結(jié)果的高重現(xiàn)性及全量程范圍的高分辨率。
﹡ 首家引進(jìn)“非球形”顆粒概念對(duì)米氏理論計(jì)算的校正因子，內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫(kù)，提高顆粒粒度分布測(cè)試的準(zhǔn)確性。
﹡ 系統(tǒng)自動(dòng)對(duì)光，內(nèi)置輔助光源用于檢驗(yàn)和校正檢測(cè)器的靈敏度。
﹡ 多種樣品分散系統(tǒng)可供選擇，各種分散系統(tǒng)之間的轉(zhuǎn)換簡(jiǎn)單方便，結(jié)果穩(wěn)定一致。
﹡ 現(xiàn)代模塊式設(shè)計(jì)，可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用需要允許選擇儀器的配置，以滿足將來(lái)的任何需要。
﹡ 數(shù)據(jù)處理靈活方便，體積分布，數(shù)量分布和強(qiáng)度分布，微分與累計(jì)百分比以及其他綜合報(bào)告形式任意組合，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)兼容性強(qiáng)。
﹡ NIST(National Institute of Standards & Technology)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)指定認(rèn)證儀器。
