中國粉體網(wǎng)訊  顆粒形狀簡稱粒形，目前顆粒形狀只對(duì)其投影面的外形輪廓線進(jìn)行測量和研究，包括輪廓線外形及其粗糙度。

    外形研究常見的是對(duì)一些特殊形狀的表征，如棒狀、薄片狀、球狀等。對(duì)棒狀、薄片狀，測量其長、寬、厚即可；接近球形的顆粒，其球形度數(shù)據(jù)也非常重要，通常能測量的是投影面的圓形度，如顆粒有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，要求圓形度達(dá)到95%~98%。

    投影面的外形輪廓線的外形定量描述，目前采用的是對(duì)輪廓線在極坐標(biāo)下傅立葉（Rourier）級(jí)數(shù)展開的方法，得到一些Rourier描述符，其低階Rourier系數(shù)表現(xiàn)出外形的主要圖像特征，如零階表示的是圓，加上一階表示出偏心度，加上二階表示出橢圓度，加上三階表示出三角性，加上四階表示出四方性，等等。

    外形輪廓線的粗糙程度表述，目前有下面幾種方式：

    1、由等效球（或圓）和顆粒實(shí)際封閉曲面（或邊界輪廓線）間半徑均方差度量，記作CR。

    2、由等效球體的表面積除以顆粒表面的實(shí)際表面積，或由顆粒投影等效圓截面的周長除以顆粒投影輪廓線的實(shí)際周長度量，記作Cl。

    3、Wadell認(rèn)為，按機(jī)械工程上粗糙度定義，凸緣尖峰的尖銳度是主要的，對(duì)摩擦起主要作用。給出的粗糙度Cw，與凸緣點(diǎn)數(shù)目、各凸緣點(diǎn)處曲率半徑以及外形輪廓線的最大內(nèi)接圓半徑有關(guān)。

    4、Fourier描述符的高階系數(shù)可反映出輪廓線的粗糙程度，記作CF。

    5、我國學(xué)者胡榮澤和其合作者，從旋轉(zhuǎn)對(duì)稱性著手，認(rèn)為對(duì)稱性的變化速度可反映出外形輪廓線的曲折程度，即粗糙度Cα。

    6、粗糙度的分維測量值，記作CD。

    以上外形和粗糙度分析，目前皆可在圖像儀上實(shí)現(xiàn)。