2016年8月12－14日，兩年一屆的“中國顆粒學(xué)會學(xué)術(shù)年會暨海峽兩岸顆粒技術(shù)研討會”在四川省成都市舉辦。來自全國各地的顆粒行業(yè)專家學(xué)者及制造企業(yè)齊聚一堂，交流顆粒學(xué)研究與技術(shù)的最新進(jìn)展。

根據(jù)研究方向不同，大會分為多個(gè)分會場，包括顆粒的測試與表征、顆粒制備與應(yīng)用技術(shù)、3D打印材料及技術(shù)、納米涂層材料及防腐技術(shù)、顆粒形貌調(diào)控等等主題。

德國Retsch Technology（萊馳科技）的銷售經(jīng)理蔡斌先生在3D打印材料及技術(shù)專場發(fā)言，介紹了3D打印粉末材料粒度及球形度的分析方法。

3D打印粉末分為金屬粉末和塑料粉末。目前，對粉末原料的粒度及球形度的分析手段主要是用激光粒度儀分析粒度，用掃描電鏡來看顆粒的球形度情況。但掃描電鏡有三個(gè)問題：1. 取樣量太少，一次只能檢測幾百個(gè)顆粒，且取樣隨機(jī)性太強(qiáng)，結(jié)果沒有代表性。2. 檢測時(shí)間過長，平均一個(gè)樣品需要45分鐘。3. 沒有量化的數(shù)值去評定結(jié)果。所以用SEM來分析粉末的球形度可行性并不高，需要一種更好的方法來替代。

Retsch Technology的干濕兩用多功能粒度粒形分析儀Camsizer X2采用的是動態(tài)圖像法，能同時(shí)檢測顆粒的粒度及球形度，比激光法精度更高，進(jìn)樣量大，能給出量化的結(jié)果，檢測速度快，是非常好的一種全新的分析方法。

CAMSIZER X2的專利測量技術(shù)——兩個(gè)數(shù)字采樣鏡頭能夠?qū)崟r(shí)記錄顆粒的大小和形狀，并自動優(yōu)化，這樣可以在800nm至8mm的范圍內(nèi)精確的分析樣品，并在整個(gè)測量范圍內(nèi)無需人工調(diào)節(jié)和校正。

樣品通過進(jìn)樣漏斗進(jìn)入樣品室，最大的優(yōu)點(diǎn)是取樣量大，樣品極具代表性和重現(xiàn)性，分析過程可以完整的記錄單個(gè)顆粒的整個(gè)下落過程。兩個(gè)數(shù)字?jǐn)z像鏡頭，分別具有不同的功能和效果，基準(zhǔn)鏡頭（CCD-B）記錄大顆粒的數(shù)據(jù)，聚焦鏡頭（CCD-Z）記錄小顆粒的數(shù)據(jù)，封閉的光學(xué)系統(tǒng)可以同時(shí)并實(shí)時(shí)測量大的或小的顆粒并記錄所有關(guān)于顆粒大小、形狀、透明度、球形度等信息。

模塊化的功能設(shè)計(jì)，如配置上在線裝置，可以全自動的對產(chǎn)品的質(zhì)量控制和粒形分析進(jìn)行監(jiān)測。

通過此次會議與專業(yè)的老師和同行們進(jìn)行溝通和交流學(xué)習(xí)，對讓與會者更全面真實(shí)地感受到顆粒測試表征領(lǐng)域技術(shù)與應(yīng)用的突破。