第四屆長余輝與光激勵發(fā)光國際研討會(2018)于2018年4月4日-8日在北京航空航天大學(xué)舉行，北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司攜BET物理吸附儀亮相。

大會現(xiàn)場

JW-BK200C是一款研究級超高性能雙站比表面及微孔孔隙度分析儀，是JW-BK200系列中的一款暢銷產(chǎn)品，測試結(jié)果準(zhǔn)確性、精確性、穩(wěn)定性完全達到國際先進水平。非常適合活性炭、活性氧化鋁、分子篩、沸石、MOF材料等超微孔納米粉體材料的研究。精微高博產(chǎn)品還包括JW-BK100系列、JW-BK300系列、JW-BK400系列等不同型號比表面及孔徑分析儀。

最近幾年長余輝與光激勵發(fā)光材料發(fā)展迅速，并廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域如照明、顯示、安全、防偽、傳感、生物成像、醫(yī)學(xué)、能源等。本會議的主要目的是報道和研討發(fā)光材料最新的實驗和理論進展，展望未來的發(fā)展方向。另外，本次會議將促進和加強研究人員之間及學(xué)術(shù)界與企業(yè)界的合作。對參加會議的學(xué)生也能起到培養(yǎng)作用。

本次會議的議題：

* 新型發(fā)光材料及制備方法

* 光譜表征方法例如光致發(fā)光譜、熱釋發(fā)光譜等。

* 結(jié)構(gòu)、缺陷和性能表征方法

* 能量傳遞過程

* 晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)、荷電/捕獲/發(fā)光等的計算機模擬

* 納米發(fā)光材料

* 固態(tài)照明、顯示和能量轉(zhuǎn)換中的應(yīng)用

* 生物成像、細胞標(biāo)記、抗癌、藥物輸運/釋放等應(yīng)用

* 傳感、安全、隱身、輻射探測等方面的應(yīng)用

關(guān)于精微高博：

北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司被譽為“中國氮吸附儀的開拓者”，在國內(nèi)率先研發(fā)成功動態(tài)全自動比表面儀、BET比表面儀、階梯法動態(tài)比表面儀、単氣路常壓孔徑分析儀、靜態(tài)容量法介孔分析儀、靜態(tài)四站比表面測定儀、高性能靜態(tài)微孔分析儀、氣體法真密度儀、高壓吸附儀等。隨著JWGB（精微高博）產(chǎn)品在全球市場知名度的提升，我們期待精微高博國際市場也將越做越大。了解更多，請登錄www.jwgb.net或致電400-600-5039