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硅襯底上生長(zhǎng)高結(jié)晶性黑磷薄膜研究取得進(jìn)展


來源:蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所

[導(dǎo)讀]  近期,中國(guó)科學(xué)院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所研究員張凱與湖南大學(xué)教授潘安練、深圳大學(xué)教授張晗合作,在《自然-通訊》(Nature Communications)上發(fā)表題為Epitaxial nucleation and lateral growth of high-crystalline black phosphorus films on silicon 的研究論文,報(bào)道了一種在硅等介質(zhì)基底上生長(zhǎng)高結(jié)晶性黑磷薄膜的方法。

中國(guó)粉體網(wǎng)訊  近期,中國(guó)科學(xué)院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所研究員張凱與湖南大學(xué)教授潘安練、深圳大學(xué)教授張晗合作,在《自然-通訊》(Nature Communications)上發(fā)表題為Epitaxial nucleation and lateral growth of high-crystalline black phosphorus films on silicon 的研究論文,報(bào)道了一種在硅等介質(zhì)基底上生長(zhǎng)高結(jié)晶性黑磷薄膜的方法。


黑磷是一種具有高載流子遷移率、0.3~1.5 eV隨厚度可調(diào)直接帶隙以及各向異性等優(yōu)異性質(zhì)的二維層狀半導(dǎo)體材料,在新型電子和光電子器件等領(lǐng)域,如高遷移率場(chǎng)效應(yīng)晶體管、室溫寬波段紅外探測(cè)器及多光譜高分辨成像等方面具有獨(dú)特的應(yīng)用優(yōu)勢(shì),受到廣泛關(guān)注。然而,黑磷的大規(guī)模應(yīng)用開發(fā)迄今仍受限于大面積、高質(zhì)量薄膜的制備。傳統(tǒng)上,黑磷可以通過高溫高壓、汞催化或從鉍溶液中重結(jié)晶等方法來制備。通過礦化劑輔助氣相輸運(yùn)法(CVT)則可進(jìn)一步提高其產(chǎn)率和結(jié)晶度。但是,這些方法僅可獲得黑磷晶體塊材,很難直接在襯底上生長(zhǎng)黑磷薄膜。最近,也有研究人員通過脈沖激光沉積或借鑒高溫高壓法嘗試在介質(zhì)襯底上直接生長(zhǎng)黑磷薄膜。然而,獲得的薄膜多為非晶態(tài),晶粒尺寸小、遷移率等電學(xué)性能不理想,離實(shí)際應(yīng)用需求相距甚遠(yuǎn)。盡管很多研究都做出了巨大努力,包括張凱團(tuán)隊(duì)前期在黑磷生長(zhǎng)、摻雜、復(fù)合所做出的持續(xù)性工作嘗試(Small 2016, 12, 5000; Adv. Funct. Mater. 27, 1702211, 2017; Nature Commun. 9, 4573, 2018),但如何在基底上實(shí)現(xiàn)黑磷成核進(jìn)而高結(jié)晶性薄膜的可控生長(zhǎng)依然是一大挑戰(zhàn)。


作者在這項(xiàng)工作中,開發(fā)了一種新的生長(zhǎng)策略,引入緩沖層Au3SnP7作為成核點(diǎn),誘導(dǎo)黑磷在介質(zhì)基底上的成核生長(zhǎng)。在以往報(bào)道的CVT方法中,以Au或AuSn作為前驅(qū)體生長(zhǎng)黑磷晶體時(shí),Au3SnP7是其中重要的中間產(chǎn)物之一。作者考慮以Au3SnP7來誘導(dǎo)黑磷成核,主要是注意到兩點(diǎn):一是Au3SnP7在黑磷生長(zhǎng)過程中可以非常穩(wěn)定地存在;二是其(010)面的磷原子排布與黑磷(100)面具有匹配的原子結(jié)構(gòu);诖耍髡咄ㄟ^在襯底上生成Au3SnP7來控制黑磷的成核和生長(zhǎng)。其中Au3SnP7的形成是將沉積了Au薄膜的硅襯底與紅磷、Sn、SnI4前驅(qū)體一起在真空封管中加熱獲得,其形貌通常為分散在硅襯底上的規(guī)則形狀晶體,尺寸數(shù)百納米。在隨后的保溫過程中,發(fā)生P4相向黑磷相的轉(zhuǎn)變并在Au3SnP7緩沖層上外延成核。這一假定可以從高分辨截面TEM圖像得到印證,可以清晰看到黑磷與Au3SnP7有序共存以及它們之間原子級(jí)平滑的界面。隨后,在持續(xù)的磷源供給及降溫過程中,會(huì)觀察到過渡態(tài)黑磷納米片產(chǎn)物及其在硅襯底上的生長(zhǎng)、融合,最終獲得表面平整潔凈的連續(xù)黑磷薄膜。


在生長(zhǎng)過程中,P4蒸氣的過快輸運(yùn)不利于黑磷薄膜形貌、厚度的控制。為了實(shí)現(xiàn)可控的黑磷薄膜生長(zhǎng),作者設(shè)計(jì)了幾種方法來減少參與相變轉(zhuǎn)化的P4源。其一,將紅磷置于低溫側(cè),而黑磷薄膜的生長(zhǎng)置于遠(yuǎn)端的高溫側(cè)。由此,升華而成的P4分子需經(jīng)歷逆溫度梯度的熱動(dòng)力學(xué)輸運(yùn)到生長(zhǎng)的襯底端,其輸運(yùn)速度及參與反應(yīng)的量得以有效控制。此外,將多片鍍有Au膜的硅襯底疊放,利用襯底之間非常狹小的間隙來限制擴(kuò)散進(jìn)入襯底間、在Au3SnP7緩沖層上實(shí)際參與生長(zhǎng)的P4分子的量。通過這些策略,可以在硅襯底上生長(zhǎng)出厚度從幾納米到幾百納米可調(diào)的黑磷薄膜。隨著厚度的增加,可獲得的薄膜尺寸也相應(yīng)越大。當(dāng)厚度約為100 nm或以上時(shí),很容易生長(zhǎng)出幾百微米至亞毫米大小的黑磷薄膜。


所生長(zhǎng)的黑磷薄膜具有良好的結(jié)晶性及優(yōu)異的電學(xué)性質(zhì),室溫下的場(chǎng)效應(yīng)遷移率和霍爾遷移率分別超過1200 cm2V-1s-1和1400 cm2V-1s-1,開關(guān)比高達(dá)106,與從黑磷晶體中機(jī)械剝離的納米片相當(dāng)。此外,比較有趣的是,生長(zhǎng)的黑磷薄膜還顯示出獨(dú)特的層狀微觀結(jié)構(gòu),由幾納米厚(~5-10 nm)的黑磷層作為單元有序堆疊構(gòu)成,單元之間保持大致等量納米級(jí)的微小間隙。這樣特異的微結(jié)構(gòu),使得生長(zhǎng)的黑磷薄膜相比于常規(guī)層間致密堆疊結(jié)構(gòu)黑磷薄膜還表現(xiàn)出優(yōu)異的光學(xué)性能,在紅外波段具有增強(qiáng)的紅外吸收和光致發(fā)光等特性。


這項(xiàng)工作為大面積、高質(zhì)量黑磷薄膜的可控制備提供了新途徑,也進(jìn)一步推進(jìn)了黑磷在高通量器件集成以及新型光電子器件開發(fā)等方面的廣泛應(yīng)用。相關(guān)研究成果發(fā)表在《自然-通訊》期刊上(Nature Communications,DOI:10.1038/s41467-020-14902-z)。該工作獲得國(guó)家優(yōu)秀青年科學(xué)基金(61922082)等的經(jīng)費(fèi)支持,以及蘇州納米所納米真空互聯(lián)實(shí)驗(yàn)站(Nano-X)在表征測(cè)試上的大力幫助。

(中國(guó)粉體網(wǎng)編輯整理/江岸)

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