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火眼金睛 材料好不好 數(shù)據(jù)全知道——顆粒測(cè)試辨清材料好壞


來(lái)源:中國(guó)粉體網(wǎng)   江岸

[導(dǎo)讀]  2020年7月3日中國(guó)粉體網(wǎng)舉辦的首屆“粉體粒度表征及在線檢測(cè)技術(shù)網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)”,為您邀請(qǐng)到國(guó)內(nèi)知名顆粒測(cè)試技術(shù)專家——上海理工大學(xué)沈建琪教授來(lái)為大家作《顆粒測(cè)試技術(shù)的最新進(jìn)展》專題報(bào)告。

中國(guó)粉體網(wǎng)訊  隨著工業(yè)技術(shù)進(jìn)步,納米材料蓬勃發(fā)展,顆粒材料在眾多領(lǐng)域有著廣泛地應(yīng)用。以納米顆粒為首的新型工業(yè)材料,在資源節(jié)約、可持續(xù)發(fā)展等方面具有極大發(fā)展?jié)摿。眾所周知,材料的尺寸決定其性質(zhì)和用途,隨著納米技術(shù)的發(fā)展,人們?cè)桨l(fā)深刻認(rèn)識(shí)到,微觀尺度的材料在特性和應(yīng)用方面與其宏觀尺寸不盡相同,隨著顆粒尺寸的減小,顆粒材料表現(xiàn)出超導(dǎo)性、熔點(diǎn)低及強(qiáng)吸光性等多種特殊性質(zhì),而顆粒的大小和尺寸分布對(duì)顆粒材料的特性起著決定性作用。此外,小粒度的材料某種程度上也威脅著人們的生命健康。因此,加強(qiáng)對(duì)顆粒大小及其分布的表征具有重要意義。


顆粒的大小和尺寸分布參數(shù)與顆粒的特性密切相關(guān),同時(shí)也是顆粒材料的生產(chǎn)制備以及應(yīng)用中離不開的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。目前,國(guó)內(nèi)外對(duì)顆粒測(cè)試技術(shù)進(jìn)行深入研究并不斷取得進(jìn)展。顆粒測(cè)試技術(shù)是對(duì)顆粒粒度及其分布等參數(shù)進(jìn)行表征的不同顆粒測(cè)試方法的統(tǒng)稱,依據(jù)原理不同主要包括篩分法、沉降法、電阻法、顯微鏡法、光散射法、超聲衰減譜法及小角X射線散射法。其中粒度,即顆粒尺寸大小是顆粒測(cè)試技術(shù)表征顆粒主要參數(shù),顆粒按粒度大小分為納米顆粒、亞微米顆粒、微粒、微粉、細(xì)粒、細(xì)粉和粗粒;诓煌淼念w粒測(cè)試方法采用不同等效參考量 (即等效粒度) 進(jìn)行顆粒表征。


顆粒測(cè)試不同方法的比較



顆粒的測(cè)試方法十分多樣,不同檢測(cè)方法在不同應(yīng)用領(lǐng)域的實(shí)際應(yīng)用也不盡相同。在實(shí)際生產(chǎn)中,根據(jù)所要檢測(cè)數(shù)據(jù)不同,可以靈活選擇不同的檢測(cè)方法。隨著科學(xué)技術(shù)的不斷進(jìn)步,相應(yīng)的對(duì)顆粒檢測(cè)技術(shù)的要求也在不斷提高,未來(lái)一些領(lǐng)域的顆粒檢測(cè)技術(shù)發(fā)展值得期待:


藥物研發(fā)和環(huán)境保護(hù)等領(lǐng)域?qū)Τ?xì)顆粒測(cè)試技術(shù)的需求日益迫切。特別是納米級(jí)別測(cè)試技術(shù)研發(fā),其中關(guān)鍵部件數(shù)值相關(guān)器的開發(fā)仍是國(guó)產(chǎn)儀器軟肋;

顆粒在線實(shí)時(shí)測(cè)試技術(shù)突破實(shí)驗(yàn)室小批量測(cè)試范疇,在線取樣、實(shí)時(shí)分析、在線傳輸?shù)拳h(huán)節(jié)需要整體擬合發(fā)展成為工業(yè)領(lǐng)域產(chǎn)品質(zhì)量把控關(guān)鍵環(huán)節(jié)。


不同原理的互補(bǔ)型綜合儀器的研發(fā)也值得期待,如激光衍射與沉降法互補(bǔ)結(jié)合、圖形分析法與篩分法互補(bǔ)結(jié)合等都可擴(kuò)展測(cè)量范圍、提高測(cè)量精度。


科技日新月異的發(fā)展,新的技術(shù)不斷被應(yīng)用,顆粒測(cè)試技術(shù)也隨之不斷創(chuàng)新與進(jìn)步。如今,顆粒測(cè)試技術(shù)有哪些讓人值得期待的突破與創(chuàng)新?2020年7月3日中國(guó)粉體網(wǎng)舉辦的首屆“粉體粒度表征及在線檢測(cè)技術(shù)網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)”,為您邀請(qǐng)到國(guó)內(nèi)知名顆粒測(cè)試技術(shù)專家——上海理工大學(xué)沈建琪教授來(lái)為大家作《顆粒測(cè)試技術(shù)的最新進(jìn)展》專題報(bào)告。


專家介紹





沈建琪,上海理工大學(xué)理學(xué)院教授。主要從事光學(xué)學(xué)科的科研和教學(xué)工作,研究領(lǐng)域涉及電磁場(chǎng)和電磁波理論、顆粒和含顆粒兩相流的光散射測(cè)試技術(shù)。先后承擔(dān)了國(guó)家兩機(jī)重大專項(xiàng)項(xiàng)目、國(guó)家自然科學(xué)基金項(xiàng)目和上海市人才專項(xiàng)等縱向項(xiàng)目,發(fā)表論文150多篇,參與撰寫學(xué)術(shù)專著2本。


社會(huì)兼職:中國(guó)顆粒學(xué)會(huì)常務(wù)理事兼顆粒測(cè)試專委會(huì)副主任委員、中國(guó)計(jì)量測(cè)試學(xué)會(huì)多相流測(cè)試專委會(huì)副主任委員。


參考資料:

吳麗,顆粒測(cè)試技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀及應(yīng)用進(jìn)展

郭永彩,微細(xì)顆粒粒度分析方法與測(cè)試技術(shù)

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