中國粉體網(wǎng)訊 隨著現(xiàn)代工業(yè)發(fā)展,電子設(shè)備向小型化、薄型化、集成化、大功率化、高頻化方向發(fā)展迅猛,半導(dǎo)體功率模塊高度集成,發(fā)熱量巨增,對(duì)設(shè)備散熱能力提出明確要求,散熱性能也成為評(píng)價(jià)產(chǎn)品壽命和可靠性的關(guān)鍵指標(biāo)。作為負(fù)載半導(dǎo)體元件的陶瓷絕緣基片,其導(dǎo)熱系數(shù)是影響設(shè)備散熱能力的主要性能。
陶瓷基板前三名
目前常用陶瓷絕緣基片材料包括氧化鋁、氮化鋁和氮化硅三種,以下三種陶瓷基板的性能對(duì)比。
1)氧化鋁陶瓷(Al2O3)
優(yōu)點(diǎn):低介電損耗、化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)良、機(jī)械強(qiáng)度較高。
缺點(diǎn):熱傳導(dǎo)率相對(duì)較低,無法滿足日益發(fā)展的集成電路電子元器件的需求。
2)氮化鋁陶瓷(AlN)
優(yōu)點(diǎn):熱導(dǎo)率高,是氧化鋁陶瓷的8倍;優(yōu)良的絕緣性。
缺點(diǎn):力學(xué)性能差,屬于高強(qiáng)度的硬脆材料,在復(fù)雜服役環(huán)境下,容易損壞,導(dǎo)致成本增加;生產(chǎn)成本高,粉體運(yùn)輸存在一定的困難。
3)氮化硅陶瓷(Si3N4)
優(yōu)點(diǎn):高強(qiáng)度、高硬度、高電阻率、良好的抗熱震性、低介電損耗和低膨脹系數(shù)。
缺點(diǎn):氮化硅陶瓷實(shí)際熱導(dǎo)率遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于理論熱導(dǎo)率的值,很難同時(shí)滿足熱導(dǎo)率及力學(xué)性能要求,一些高熱導(dǎo)率氮化硅陶瓷(>150W/(m·K))還處于實(shí)驗(yàn)室階段。
高導(dǎo)熱氮化硅陶瓷基板,來源:中材高新
三種陶瓷基板對(duì)比下來,氮化硅在綜合性能方面表現(xiàn)最優(yōu),這無疑是一種非常理想的散熱性能良好的基板材料。目前國內(nèi)市場(chǎng)上,氧化鋁和氮化鋁陶瓷基片已經(jīng)實(shí)現(xiàn)產(chǎn)業(yè)化,但高導(dǎo)熱氮化硅陶瓷作為商用電子器件的基板材料仍是一大難題,只有國外的一些公司可以實(shí)現(xiàn)氮化硅陶瓷基板商業(yè)化,那到底是什么因素阻礙了這么優(yōu)秀的的陶瓷基板發(fā)展呢?這就得從氮化硅獨(dú)特的化學(xué)成分和微觀結(jié)構(gòu)說起。
晶格氧對(duì)高導(dǎo)熱氮化硅陶瓷的影響
1、影響原因
氮化硅是一種共價(jià)化合物,電子被束縛不能自由移動(dòng),那么要實(shí)現(xiàn)熱傳導(dǎo),唯一方式就是晶格振動(dòng)。晶格振動(dòng)以聲子輸運(yùn)為主,由于晶格振動(dòng)的非線性,晶格間有著一定的耦合作用聲子之間會(huì)發(fā)生碰撞,使聲子的平均自由程減小。另外Si3N4晶體中的各種缺陷、雜質(zhì)以及晶粒界面都會(huì)引起聲子散射,也等效于聲子平均自由程減小,從而降低熱導(dǎo)率。
氮化硅燒結(jié)體的典型微觀結(jié)構(gòu)
研究表明,在諸多晶格缺陷中,晶格氧是影響氮化硅陶瓷熱導(dǎo)率的主要缺陷之一。在燒結(jié)過程中,氮化硅粉中氧原子以二氧化硅的形式發(fā)生發(fā)生固溶反應(yīng):
2SiO2→2SiSi+4ON+VSi
反應(yīng)中生成硅空位,并且原子取代會(huì)使晶體產(chǎn)生一定的畸變,這些會(huì)引起聲子的散射,從而降低Si3N4晶體的熱導(dǎo)率。為了解決晶格氧對(duì)氮化硅熱導(dǎo)率的影響,Kita⁃yama等人通過熱氣抽提法測(cè)定了晶格的氧含量,結(jié)果表明晶粒長大能有效降低晶格的氧含量,從而顯著提高熱導(dǎo)率。而制備具有高熱導(dǎo)率的氮化硅陶瓷,需要其具有大尺寸的晶粒,因此通過降低晶格氧含量來制得高熱導(dǎo)率的氮化硅顯得尤為關(guān)鍵。
2、降低晶格氧量的方法
(1)原料粉體選擇
從原料粉體上降低晶格氧目前有兩種方法:一種是直接使用氮化硅粉(α-Si3N4粉或β-Si3N4粉)進(jìn)行燒結(jié);另一種是使用高純度的硅粉為原料,經(jīng)過硅粉的氮化和重?zé)Y(jié)兩步工藝獲得高致密、高導(dǎo)熱的氮化硅陶瓷。
α-Si3N4使用Si粉的直接氮化而制備的,氧含量較高,其制備的氮化硅陶瓷熱導(dǎo)率較低,盡管可以采用SiCl4與NH3液相反應(yīng)生成的高純度、低含氧量的α-Si3N4粉制備氮化硅陶瓷,但是使用高純度原料會(huì)導(dǎo)致成本增加,不利于大規(guī)模生產(chǎn)。
β-Si3N4含氧量較低,制備的氮化硅陶瓷熱導(dǎo)率較高,但β-Si3N4的棒狀晶粒會(huì)阻礙晶粒重排,導(dǎo)致燒結(jié)物難以致密,燒結(jié)活性較差?赏ㄟ^使用特殊燒結(jié)方式和延長保溫時(shí)間來提高燒結(jié)活性,但是這樣也會(huì)增加技術(shù)難度和成本。
隨著現(xiàn)代半導(dǎo)體工業(yè)的發(fā)展,高純硅粉生產(chǎn)技術(shù)已經(jīng)非常成熟,采用Si粉為原料制得的樣品能達(dá)到很高的熱導(dǎo)率,但是在研磨的過程中容易發(fā)生氧化,而且實(shí)驗(yàn)過程繁瑣,耗時(shí)較長,不利于工業(yè)化生產(chǎn)。
(2)燒結(jié)劑的選擇
Si3N4屬于共價(jià)化合物,有著很小的自擴(kuò)散系數(shù),在燒結(jié)過程中依靠自身擴(kuò)散很難形成致密化的晶體結(jié)構(gòu),因此添加合適的燒結(jié)助劑和優(yōu)化燒結(jié)助劑配比能得到高熱導(dǎo)率的氮化硅陶瓷。目前氮化硅燒結(jié)劑種類很多,大致分為氧化物和非氧化物、碳還原。
A、氧化物燒結(jié)劑
研究表明,燒結(jié)助劑MgO和Al2O3均可提高燒結(jié)性能,不過由于Al2O3溶解到Si3N4晶粒中后會(huì)抑制晶粒生長,導(dǎo)致導(dǎo)熱性降低,Al2O3燒結(jié)劑慘遭淘汰。選擇粒度較大的MgO可提升氮化硅的熱導(dǎo)率。
摻雜不同粒度MgO的圖像分析
B、非氧化物燒結(jié)劑
為了進(jìn)一步降低晶格氧含量,提高氮氧比,常使用非氧化物燒結(jié)助劑來制備熱導(dǎo)率更高、性能更加優(yōu)異的氮化硅陶瓷。研究表明相比于氧化物燒結(jié)助劑,非氧化物燒結(jié)助劑能額外提供氮原子,提高氮氧比,促進(jìn)晶型轉(zhuǎn)變,還能還原SiO2起到降低晶格氧含量、減少晶界相的作用。
C、碳的還原
碳被廣泛用作非氧化物陶瓷的燒結(jié)添加劑,其主要作用是去除非氧化物粉末表面的氧化物雜質(zhì)。碳的加入使得氮化硅陶瓷中晶格氧的含量大幅降低,極大的提高了氮化硅陶瓷的熱導(dǎo)率。且這種方法對(duì)于粉體含氧量和燒結(jié)助劑的要求不高,且制備成本不高,隨著技術(shù)的發(fā)展,該種辦法在實(shí)際工業(yè)化生產(chǎn)中有望得到廣泛應(yīng)用。
小結(jié)
隨著以SiC為襯底的第3代半導(dǎo)體芯片在新能源汽車、5G、新能源領(lǐng)域的快速推廣,Si3N4陶瓷基板需求也迎來了快速發(fā)展階段。但晶格氧的含量導(dǎo)致氮化硅陶瓷的實(shí)際熱導(dǎo)率低于預(yù)期。因此為了降低氮化硅陶瓷的晶格氧含量是制備高導(dǎo)熱氮化硅基板的前提條件。
參考來源:
陳波等:氮化硅陶瓷在四大領(lǐng)域的研究以及應(yīng)用進(jìn)展
廖圣俊等:高導(dǎo)熱氮化硅陶瓷基板研究現(xiàn)狀
白云飛等:晶格氧對(duì)氮化硅陶瓷熱導(dǎo)率的影響
張創(chuàng)等:氮化硅陶瓷的研究與應(yīng)用發(fā)展
陶瓷基板:中材高新|高導(dǎo)熱氮化硅陶瓷基板最新進(jìn)展
(中國粉體網(wǎng)編輯整理/空青)
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