中國粉體網(wǎng)訊 CPS納米粒度分析儀是一臺(tái)穩(wěn)定高速、以及高分辨的納米粒度分析儀。該儀器適合測(cè)量0.005um到75um范圍的粒度。樣品被注人到高速旋轉(zhuǎn)的液體中，然后在離心力的作用下，樣品被快速沉淀并通過檢測(cè)頭被檢測(cè)并拾取。因?yàn)榇笮〔煌念w粒到達(dá)檢測(cè)頭的時(shí)間不同，因此通過記錄顆粒到達(dá)檢測(cè)頭的時(shí)間，就可以知道顆粒的大小。有別于傳統(tǒng)方法，通過差示離心沉降原理可為顆粒的精細(xì)區(qū)分提供新的解決方案。同激光散射和顆粒計(jì)數(shù)法等方法比較，該方法有非常高的分辨率。
CPS納米粒度分析儀 圖源：儒亞科技
納米粒度儀具有自動(dòng)測(cè)試、自動(dòng)對(duì)中、自動(dòng)進(jìn)水、自動(dòng)排水、自動(dòng)消除氣泡、自動(dòng)清洗等特殊功能。智能化不僅簡化了操作,也減少了人為因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響,使它的量程、重復(fù)性、準(zhǔn)確性和分辨力等主要指標(biāo)都達(dá)到了標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的水平。該儀器特別適合中小粉體生產(chǎn)與應(yīng)用企業(yè),以及高校和研究院所的中小實(shí)驗(yàn)室作為粉體質(zhì)量控制、生產(chǎn)工藝控制、粉體應(yīng)用研究、新粉體材料研究可靠的粒度監(jiān)測(cè)手段。
CPS高精度納米粒度儀在碳納米材料中的應(yīng)用
低維納米顆粒型材料由于獨(dú)特的性質(zhì)，得到了社會(huì)的廣泛關(guān)注。而納米顆粒的粒度大小、分布、在介質(zhì)中的分散性能以及二次粒子的聚集形態(tài)對(duì)納米顆粒型材料的性能具有重要的影響，因此粒度表征是納米顆粒型材料研究的一個(gè)重要方面。而在粒徑檢測(cè)中，CPS納米粒度儀分析儀根據(jù)獨(dú)特的Stokes定律檢測(cè)顆粒粒徑分布的間接測(cè)量法，在炭黑、白炭黑、碳納米管領(lǐng)域中具有分辨率高、對(duì)于粒徑分布較寬的樣本也能較好測(cè)試的特點(diǎn)。
例如對(duì)于炭黑的粒徑檢測(cè)，常用的炭黑添加劑粒徑為納米級(jí)別，裂解后的炭黑粒徑不一，大部分處于30um左右，最小粒徑為3um，最大為74.14um。需要對(duì)其粒徑的分布進(jìn)行測(cè)試。而目前對(duì)炭黑的粒徑測(cè)量方法為差速沉淀法。由于常用的炭黑粒徑比較均勻，在測(cè)試時(shí)粒徑的分布常呈現(xiàn)正態(tài)曲線分布，但在裂解后炭黑中混有橡膠纖維，導(dǎo)致粒徑變大，不同粒徑炭黑的含量不同，不再呈現(xiàn)均勻的正態(tài)分布。造成樣品的測(cè)試比較困難。
美國CPS24000納米粒度分析儀可以真實(shí)反映樣品在溶液中的真實(shí)粒徑分布狀態(tài)，粒徑測(cè)試結(jié)果的精確度僅次于掃描電鏡。主要特點(diǎn)如下：
CPS24000納米粒度分析儀 圖源：儒亞科技
1、所需樣品量少。每次只需要0.1ml，這在疫苗研發(fā)、化學(xué)合成方面具有極大的優(yōu)勢(shì)。
2、一次測(cè)試樣品量高。在前處理準(zhǔn)備工作做完以后，可結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)顆粒一批次測(cè)試40多個(gè)樣品。
3、分辨率高。同激光散射和顆粒計(jì)數(shù)等方法比較，對(duì)于樣品中即使只有1%峰值差異的顆粒，依舊可以很好地區(qū)分測(cè)量出來，即可以得到真實(shí)的粒度分布結(jié)果。
該方法看到的是顆粒分布本身，而不是分布顆粒的混合圖。
4、靈敏度高。低至10-8g 的樣品就可以滿足日常分析需要。
5、分析時(shí)間短。和傳統(tǒng)沉降法比較，由于采用更快的圓盤轉(zhuǎn)速和高速檢測(cè)器，因此極大縮短了分析所需時(shí)間。對(duì)于粒徑分布范圍很寬的樣品，通過可選的速度調(diào)節(jié)功能圓盤，僅需常規(guī)圓盤分析時(shí)間的1/20。
6、快速、高精度數(shù)模(A/D)轉(zhuǎn)換：可用信號(hào)分辨率（即軟件操作的對(duì)象）決定于數(shù)模轉(zhuǎn)換的過程。CPS系統(tǒng)使用的數(shù)模轉(zhuǎn)換可以實(shí)現(xiàn)在每秒31次取樣時(shí)保持20位以上的精度，幾百萬分之一的誤差。
2024年10月29日在上�？鐕少彆�(huì)展中心，由北京粉體技術(shù)協(xié)會(huì)與柏德英思展覽(上海)有限公司聯(lián)合主辦2024第三屆低維碳納米材料制備及應(yīng)用技術(shù)交流會(huì)。屆時(shí)來自儒亞科技（北京）有限公司的黨金貴產(chǎn)品總監(jiān)將作題為《CPS納米粒度儀在碳納米材料中的應(yīng)用》的報(bào)告。
專家簡介：
黨金貴，江南大學(xué)碩士，儒亞科技（北京）有限公司技術(shù)總監(jiān)。發(fā)表中文核心期刊一篇，CSCD期刊一篇。專業(yè)從事各類粉體粒度表征多年，解決了龍頭企業(yè)如歐勵(lì)隆Orion、卡博特、固特異、風(fēng)神輪胎在碳納米管、炭黑和白炭黑領(lǐng)域納米粒徑測(cè)試中各種棘手問題，在碳納米材料領(lǐng)域具有獨(dú)到的見解。
參考來源：
儒亞科技官網(wǎng)，儒亞科技公眾號(hào)
熊向軍，納米顆粒粒度分析的新進(jìn)展——CPS高速離心式納米粒度分析儀
（中國粉體網(wǎng)編輯整理/留白）
