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從標(biāo)準(zhǔn)的角度了解激光粒度分析儀


來(lái)源:中國(guó)粉體網(wǎng)   黑金

[導(dǎo)讀]  激光粒度分析儀市場(chǎng)需求空間將進(jìn)一步擴(kuò)大。

中國(guó)粉體網(wǎng)訊  粉體材料是由大量大小不一、形狀各異的顆粒組成的顆粒系統(tǒng),對(duì)顆粒粒度、粒度分布的測(cè)量,是對(duì)粉體材料的生產(chǎn)工藝、生產(chǎn)設(shè)備或粉體材料進(jìn)行性能評(píng)價(jià)必不可少的工作之一。



來(lái)源:丹東百特儀器有限公司


激光粒度分析儀是目前使用領(lǐng)域較廣的粒度分析儀


激光粒度分析儀是用于測(cè)量顆粒大小及其分布的儀器。測(cè)量對(duì)象可以是各類(lèi)連續(xù)相介質(zhì)中的分散相,包括液相介質(zhì)中的固體顆粒、氣泡和液滴(如,水中的油或者油中的水)、氣相介質(zhì)中的固體顆粒和液滴等。


通常,用這類(lèi)儀器測(cè)量顆粒樣品時(shí),需要將樣品進(jìn)行分散處理。當(dāng)分散介質(zhì)是液體,稱(chēng)為“濕法測(cè)量”,相應(yīng)的分散裝置稱(chēng)為“濕法進(jìn)樣器”;當(dāng)分散介質(zhì)是氣體,則稱(chēng)為“干法測(cè)量”,相應(yīng)的分散裝置稱(chēng)為“干法進(jìn)樣器”(測(cè)量氣相介質(zhì)中的固體顆粒和液滴無(wú)需配備進(jìn)樣器)。


與其他粒度測(cè)量?jī)x器相比,激光粒度分析儀具有粒度測(cè)量范圍寬、測(cè)量速度快、測(cè)量重復(fù)性好和操作方便等優(yōu)點(diǎn),在環(huán)保、能源、電子、造紙、化工、醫(yī)藥、食品、實(shí)驗(yàn)室等眾多領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。


激光粒度分析儀的結(jié)構(gòu)及原理


激光粒度分析儀是以激光為主要光源,基于散射光空間分布原理測(cè)量粒度分布的儀器。主要由光源系統(tǒng)(含激光器和/或其他光源以及配套的光學(xué)系統(tǒng))、測(cè)量池和樣品分散系統(tǒng)、散射光探測(cè)系統(tǒng)、信號(hào)采集與系統(tǒng)控制電路、計(jì)算機(jī)及相關(guān)軟件組成。


激光粒度儀結(jié)構(gòu)示意圖



其原理是利用顆粒對(duì)光的散射現(xiàn)象——不同大小顆粒散射光的空間分布特征不同,來(lái)測(cè)量顆粒粒度及其分布。測(cè)量時(shí),待測(cè)的顆粒樣品以適宜的濃度分散在適當(dāng)?shù)慕橘|(zhì)(液體或氣體)中,單色光束(通常是激光)照射到顆粒后發(fā)生散射,由多元的光電探測(cè)器組成的探測(cè)器陣列對(duì)這些散射光進(jìn)行測(cè)量,并將產(chǎn)生的光電信號(hào)輸送給儀器的放大和模數(shù)轉(zhuǎn)換電路,轉(zhuǎn)變成數(shù)字化的散射光分布數(shù)據(jù),并將數(shù)據(jù)傳送給計(jì)算機(jī)。計(jì)算機(jī)事先利用Mie散射理論或Fraunhofer衍射近似理論建立散射矩陣(矩陣的每一列代表一種粒徑顆粒的散射光分布)。收到被測(cè)樣品的散射光分布數(shù)據(jù)后,計(jì)算機(jī)通過(guò)適當(dāng)?shù)姆囱菟惴吧⑸渚仃噷?duì)散射光分布求解,得出被測(cè)樣品的粒度分布。


光散射法測(cè)量粒度分布原理示意圖



另外,激光粒度分析儀反演計(jì)算得到的原始分布是體積分布,由于在體積保持不變的情況下,顆粒個(gè)數(shù)(數(shù)量)隨粒徑的減小呈3次方關(guān)系增加,當(dāng)轉(zhuǎn)換成數(shù)量分布時(shí),體積的微小誤差將導(dǎo)致小顆粒方向顆粒數(shù)的巨大誤差。


對(duì)于粒徑為體積平均粒徑1/10的這部分顆粒,如果測(cè)量造成的這些顆粒體積誤差相對(duì)于總體積是0.1%,轉(zhuǎn)換成數(shù)量的話,這些顆粒的誤差相對(duì)于總數(shù)量大約是100%。


激光粒度分析儀的技術(shù)要求


激光粒度分析儀在制造和使用中,制造單位和用戶最關(guān)心的就是其性能指標(biāo)!额w粒 激光粒度分析儀 技術(shù)要求》(GB/T41949-2022)對(duì)性能要求重點(diǎn)羅列了以下幾點(diǎn)。


儀器重復(fù)性


使用儀器分別測(cè)量粒徑在3個(gè)范圍——D50≤1μm、1μm<D50≤100μm和D50>100μm的寬分布樣品(1.5≤D90/D10≤3),每個(gè)樣品重復(fù)測(cè)量8次,D50的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差應(yīng)不大于2%,D10和D90相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差應(yīng)不大于3%。當(dāng)用戶有特殊要求時(shí),由供需雙方協(xié)商。


儀器準(zhǔn)確性


對(duì)有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的D50重復(fù)測(cè)量3次,儀器測(cè)量平均值與粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)值間的相對(duì)誤差應(yīng)符合以下表中的技術(shù)指標(biāo)。


儀器測(cè)量相對(duì)誤差的技術(shù)指標(biāo)



儀器分辨力

把儀器調(diào)至正常樣品測(cè)試狀態(tài)。使用粒徑范圍為1μm~100μm,相鄰兩個(gè)峰的粒徑比值不大于2的多峰分布粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)時(shí),儀器應(yīng)能明顯測(cè)出多峰分布;或者,選擇粒徑范圍為1μm~100μm且D50比值不大于2的兩種顆粒標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)混合后進(jìn)行測(cè)量,應(yīng)能從儀器測(cè)量出的粒度分布曲線圖中觀察到兩個(gè)明顯的峰形。


D50檢測(cè)下限


儀器應(yīng)能測(cè)量其標(biāo)稱(chēng)的D50下限以上的任意單分散顆粒標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的粒徑,且測(cè)量的準(zhǔn)確性同樣要滿足要求。


小結(jié)


激光粒度儀應(yīng)用場(chǎng)景廣泛,我國(guó)作為工業(yè)大國(guó),激光粒度儀市場(chǎng)需求空間廣闊。同時(shí)國(guó)家政策支持各企業(yè)、實(shí)驗(yàn)室、醫(yī)院等領(lǐng)域設(shè)備更新改造,激光粒度儀市場(chǎng)需求空間將進(jìn)一步擴(kuò)大。同時(shí)對(duì)其性能要求也將越來(lái)越高。


信息主要來(lái)源:《顆粒 激光粒度分析儀 技術(shù)要求》(標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T41949-2022)


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