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顆粒測試基本知識百問百答--16重復(fù)性及誤差的計(jì)算方法

顆粒測試基本知識百問百答--16重復(fù)性及誤差的計(jì)算方法
丹東百特  2017-05-03  |  閱讀:6017

在相同測量條件下對同一被測樣品連續(xù)多次測量所得結(jié)果之間的偏差叫重復(fù)性。重復(fù)性條件包括以下幾個(gè)方面:相同的測量流程,相同的操作者,在相同的條件,在相同的地點(diǎn),使用相同的儀器,在短時(shí)間內(nèi)多次測量。重復(fù)性是衡量粒度儀器和粒度測試方法穩(wěn)定性的主要指標(biāo)。重復(fù)性誤差的計(jì)算方法如下:

       重復(fù)性或重現(xiàn)性為:

         其中:

                        n為實(shí)際測量次數(shù)(一般 n ≥ 10);

                        xi 為每次測試的結(jié)果;

                        x 為多次測量的平均值;

                        σ 為標(biāo)準(zhǔn)差;


ISO13320 規(guī)定激光粒度儀重復(fù)性允許偏差:D10 ≤ 5%、D90 ≤ 5%,D50 ≤ 3%,如果它們的數(shù)值小于 10μm,誤差可放大一倍。

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