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超細(xì)化、納米化是現(xiàn)代粉體材料研究和生產(chǎn)的趨勢(shì),為滿足對(duì)這些材料的精確粒度分析,激光粒度儀的測(cè)量范圍也向超細(xì)化、納米化方向發(fā)展,所以現(xiàn)代高性能的激光粒度儀的測(cè)量下限已經(jīng)達(dá)到 20nm 甚至 10nm,而樣品折射率(包括吸收率)是 Mie 散射精確求解的一個(gè)重要條件,如果折射率錯(cuò)誤,將導(dǎo)致粒度測(cè)試結(jié)果錯(cuò)誤。隨著新材料、合成材料以及混合材料越來(lái)越多,用常規(guī)手段測(cè)試這些材料的折射率很困難,這是粒度測(cè)試遇到的難題。為解決這個(gè)難題,百特研制成功了Bettersize3000plus高性能激光粒度儀測(cè)量樣品折射率的方法,在粒度測(cè)試前先測(cè)量折射率和吸收率,保證了對(duì)新材料粒度測(cè)試的準(zhǔn)確性,收到了很好的效果。
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