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    全球惟一擁有高濃度ZETA電位測量技術，并且同時也是已知的惟一的可實現(xiàn)固體和薄膜表面ZETA電位測量的技術的最新型的儀器----DelsaNano已于2007年10月在北京的BCEIA上首發(fā)并亮相。
    該臺采用FST專利技術由美國貝克曼庫爾特公司出品的zeta 電位儀及納米粒度分析儀為顆粒特性的表征提供最新的手段，又一次為材料分析領域帶來了技術突破。同時亦成為美國貝克曼庫爾特公司在顆粒特性分析儀器領域始終處于領導地位的最好注腳。
    欲了解更多關于最新技術的DelsaNano的相關特性及參數(shù)，請立即聯(lián)系貝克曼庫爾特公司顆粒特性分析部門于各地的代表處或瀏覽網(wǎng)站：www.coultercoulter.com