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正確選擇 X 射線光學(xué)元件可以顯著提高 XRD 數(shù)據(jù)質(zhì)量，使定量和定性物相分析更容易，并避免忽視衍射圖中的重要細(xì)節(jié)。

X 射線衍射 (XRD) 是對多晶樣品（如粉末或塊體材料）進(jìn)行定量和定性分析的標(biāo)準(zhǔn)方法。很難識別材料中包含的所有物相，并量化每個(gè)物相的正確相對含量。這在多相體系中尤其如此，其中某些物相只占整個(gè)體系的百分之幾。高數(shù)據(jù)質(zhì)量、高分辨率和低背景噪音在這方面有很大幫助。Anton Paar 全自動(dòng)多功能粉末 X 射線衍射儀 XRDynamic 500 是此類測量的完美選擇，因?yàn)槠鋵＠腡ruBeam^TM 概念將無與倫比的數(shù)據(jù)質(zhì)量和測量效率相結(jié)合。