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上海儒特機(jī)電設(shè)備有限公司 2023-08-09 點(diǎn)擊602次
硅微粉具有優(yōu)良的物理和化學(xué)性能,可廣泛應(yīng)用于橡膠、塑料、高級油漆、涂料、耐火材料、電器絕緣、電子封裝、高檔陶瓷、精密鑄造等生產(chǎn)領(lǐng)域。許多應(yīng)用領(lǐng)域?qū)Τ?xì)硅微粉的純度、粒度和粒度組成有相當(dāng)嚴(yán)格的要求。硅微粉生產(chǎn)工藝一般有破碎、粉磨工序。粉
磨一般用滾動球磨、攪拌球磨、振動球磨、氣流磨等。攪拌磨與其它超細(xì)粉碎設(shè)備相比,具有粉碎效率高、能耗低、產(chǎn)品粒度細(xì)、污染小、工藝過程簡單等優(yōu)點(diǎn) 。
本文采用釔穩(wěn)定氧化鋯珠為研磨介質(zhì),將研磨桶內(nèi)壁和攪拌器都襯以聚氨酯,通過攪拌磨制備高純超細(xì)硅微粉,對硅微粉特征參數(shù)D 。隨攪拌粉磨時(shí)間延長的變化規(guī)律、釔穩(wěn)定氧化鋯珠對硅微粉的污染程度、1m以下超細(xì)硅微粉的形貌特征等展開研究。
1 實(shí)驗(yàn)條件及方法
1.1 主要原材料和儀器
石英粉:以脈石英為原料經(jīng)過選礦提純后的石英粉,其SiO 的含量為99.94% ,一0.074 mm粒級占37.39% ;釔穩(wěn)定氧化鋯珠:材質(zhì)密度為6.0 g/cm ,莫氏硬度9,直徑為3 mm;濕磨分散介質(zhì):蒸餾水。
ZJM20T攪拌球磨機(jī)(內(nèi)壁及攪拌器均襯上聚氨酯),球磨桶容積為6 L,攪拌器可調(diào)轉(zhuǎn)速范圍:0~1 200 r/rain,人料粒度尺寸小于0.25 mm;LS—POP型激光粒度分析儀;納米粒度與Zeta電位分析儀:型號為Zetasizer Nano ZS90;JSM一6380LV型掃描電子顯
微鏡。
1.2 實(shí)驗(yàn)方法
根據(jù)攪拌球磨機(jī)的使用說明,計(jì)算確定介質(zhì)球裝填量、物料裝填量和濕磨分散介質(zhì)體積。經(jīng)計(jì)算得,料:水:研磨體質(zhì)量比為1.57 kg:2.11 kg:10.26 kg,即1:1.34:6.54。通常情況下,料:水:研磨體質(zhì)量比為1:(0.8~1.1):(1.5~2.3)是適宜范圍¨j,但亦可根據(jù)具體情況調(diào)整比例。由于受材料的尺寸大小和密度的影響,實(shí)際選用這個(gè)比例是合適的。實(shí)際裝料時(shí)介質(zhì)球與漿料的總體積為球磨桶體積的75% ~80%。攪拌球磨機(jī)的轉(zhuǎn)速定為600 r/min。用歐美克激光粒度分析儀測定粉磨不同時(shí)間后的硅微粉的粒度分布,用納米粒度與Zeta電位分析儀測定***終硅微粉的粒度分布,用掃描電子顯微鏡觀察分析硅微粉的形貌特征。
2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與討論
目前相關(guān)行業(yè)對高純超細(xì)硅微粉的質(zhì)量要求如下:純度即SiO 含量99.5% ~99.9% ;雜質(zhì)要求:Fe 0 含量0.008% ~0.03% ,A120 含量0.06% ~0.2% ,MgO含量0.002% ,Na20含量0.O1% ,TiO2含量0.01% ;灼燒失量0.1% ~0.15% ;中位徑D50( m):2.5~150,7~35,8~25,33~150。
2.1 粉磨時(shí)間對硅微粉粒度的影響
粉磨不同時(shí)間后硅微粉粒度分布和變化分別見表1~表8。
由表1可知,粉磨6 h后硅微粉的中位徑,) 。是32.50 m。由表2可看出,粉磨6 h后硅微粉的粒徑是43.9 m時(shí)的微分分布***,是7.17% ;***粒徑是169.0 m,對應(yīng)的微分分布為1.07%。
從表3可以看出,粉磨8 h后硅微粉的中位徑D 。
是30.54 ixm。由表4可以看出,粉磨8 h后硅微粉的粒徑為43.9 m時(shí)微分分布***,為6.58% ;***粒徑169.0 m,對應(yīng)的微分分布為1.32%。
由表5可知,粉磨10 h后硅微粉的中位徑D 。是14.23/a,m。由表6可以看出,硅微粉的粒徑為22。4Ixm時(shí)的微分分布***,為5.75% ;***粒徑169.0m,其對應(yīng)的微分分布為0.18%。
由表7可以看出,粉磨12 h后硅微粉的中位徑D 是5.24 Ixm。由表8看出,硅微粉的粒徑為8.14 m時(shí)的微分分布***,為6.48% ;***粒徑72.8 I.Lm,其對應(yīng)的微分分布為0.01%。不經(jīng)分級可以獲得百分含量占99.99% 、粒徑為61.5 Ixm以下的硅微粉。
研究粉磨不同時(shí)間后硅微粉粒徑特征參數(shù)的變化規(guī)律,可以近似地了解攪拌磨粉磨石英粉的難易程度或粉磨動力學(xué)。以粉磨不同時(shí)間后的硅微粉粒徑特征參數(shù)D 為縱坐標(biāo),粉磨時(shí)間為橫坐標(biāo)作圖,可得粉磨不同時(shí)間后粒徑特征參數(shù)的變化規(guī)律曲線,見圖1。
由圖1可以看出,當(dāng)粉磨時(shí)間由6 h到8 h,石英粉的特征粒徑變化較小,這可能是由于石英砂粒度較粗時(shí),磨介的沖擊力相對較小,不足以粉碎石英顆粒。當(dāng)粉磨時(shí)間由8 h延續(xù)至12 h,D 。變小的速度明顯增大,說明磨介的粉碎力適合于磨細(xì)試驗(yàn)時(shí)的石英砂粒度。
2.2 ***終硅微粉粒度分析
由表8可以得知,在粉磨12 h后,物料粒度在1m左右以下的僅占11.65% ,故要通過沉降分級才能獲取1 I.Lm以下的石英粉體。若要增加1 txm以下的石英粉體產(chǎn)量,還需繼續(xù)延長攪拌研磨時(shí)問。將粉磨12 h后的石英粉在1 000 mL的量筒中進(jìn)行自由沉降分級,沉降時(shí)間為14 h,之后設(shè)法收集量筒中懸浮液中的硅微粉,將此硅微粉用納米粒度與Zeta電位分析儀測定其粒度,粒度微分分布示于圖2。從圖2可以看出,用攪拌磨粉磨后再經(jīng)分級可以制得小于1 Ixm的石英粉,可滿足高科技行業(yè)對原料粒度的要求。儀器分析測得粉末的平均粒徑為624.7 nm。
2.3 硅微粉的掃描電子顯微鏡分析
將***終所得硅微粉在掃描電子顯微鏡下進(jìn)行形貌觀察,照片見圖3。由圖3可以看出,絕大部分硅微粉的粒徑在1 m以下,且多數(shù)顆粒粒度均勻、形貌呈不規(guī)則的角礫狀,僅有少數(shù)顆粒呈針狀,但是呈球形的顆粒很少。這主要是因?yàn)榉勰ソ橘|(zhì)球和物料在攪拌器的驅(qū)動下作無規(guī)則的多維循環(huán)運(yùn)動和自轉(zhuǎn)運(yùn)動,物料在介質(zhì)球的沖擊力、剪切力、研磨力等多種作用力下,不斷被粉碎所致。加之石英晶粒力學(xué)性能上的多向異性,也可能導(dǎo)致這種現(xiàn)象的發(fā)生。
2.4 ***終所得硅微粉的化學(xué)成分及被污染的程度
***終硅微粉的化學(xué)成分見表9。由表9可知,***終硅微粉的SiO,含量可達(dá)到99.9l% ,其它組分含量很低,已達(dá)到和超過環(huán)氧塑封料等用途的硅微粉品質(zhì)要求。***終硅微粉被污染的程度小,由于研磨介質(zhì)球磨損帶進(jìn)的ZrO 雜質(zhì)僅占0.0246% ,帶進(jìn)的Y O 雜質(zhì)為0.0014%
3 結(jié) 論
1)用攪拌磨在適當(dāng)轉(zhuǎn)速、適當(dāng)磨礦濃度和合適的磨介充填量情況下,經(jīng)過12 h的粉磨,可獲得粒徑為1 I.tm以下含量占11.65%的硅微粉;通過沉降分級可以獲取SiO,的含量為99.91% 、1 txm以下的硅微粉。不經(jīng)分級可以獲得粒徑為61.5 laxn以下占99.99% 的硅微粉。
2)用內(nèi)襯聚氨酯的攪拌磨,以密度為6.0 g/cm 、直徑為3 mm的釔穩(wěn)定氧化鋯珠為研磨介質(zhì),可將高純石英砂原料磨細(xì)成SiO 的含量為99.91% 的硅微粉,從化學(xué)成份和粒度考慮,可達(dá)到一般高純超細(xì)硅微粉的質(zhì)量要求,甚至可達(dá)到和超過一般環(huán)氧塑封料用硅微粉的品質(zhì)要求。
3)用攪拌磨制備的石英微粉,多數(shù)顆粒粒徑均勻,但即使粒徑小于1 m,仍有少數(shù)顆粒呈石英晶形的長條狀,難以獲得球形硅微粉。
4)***終硅微粉被污染的程度小,由研磨介質(zhì)磨損帶進(jìn)的ZrO 雜質(zhì)僅占0.0246% ,帶進(jìn)的Y。O。雜質(zhì)為0.0014% 。