
歐奇奧儀器(北京)有限公司

已認(rèn)證
歐奇奧儀器(北京)有限公司
已認(rèn)證
日前獲悉, 為滿足廣大客戶需求,儀思奇(北京)科技發(fā)展有限公司北京應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室已經(jīng)對(duì)外正式服務(wù),可以接受多功能超聲粒度及Zeta電位分析儀和圖像法粒度粒形分析儀委托樣品測(cè)試。
一、 500nano XY 彩色粒度和形貌分析儀:
目前,流行的粒度分布測(cè)定方法是激光衍射法,但是最近新修訂的GBT19077-2016《粒度分析:激光衍射法》(即ISO13320:2009)指出:激光粒度分析儀只能用于球形顆粒的檢測(cè),對(duì)于非球形顆粒誤差較大,其結(jié)果受到顆粒形貌的極大影響,誤差來(lái)源包括顆粒的光學(xué)各向異性、顆粒的非球形和表面粗糙度、熒光等,對(duì)極少量大顆粒靈敏度不夠,可靠性范圍在粒度分布的5%~95%之間。
隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的進(jìn)步和計(jì)算機(jī)視覺(jué)技術(shù)的迅猛發(fā)展,以歐奇奧儀器公司為代表的新一代圖像法粒度和形貌分析儀用“眼”看世界,正在逐步取代流行了二十年的激光粒度儀。它沒(méi)有理論假設(shè),只有對(duì)顆粒的定義,因此,能夠準(zhǔn)確地反映樣品的真實(shí)粒度及其分布,并且能對(duì)顆粒形貌進(jìn)行準(zhǔn)確地定量分析,給出各種形貌分布圖。目前,實(shí)驗(yàn)室擁有的500nano XY靜態(tài)法圖像分析儀代表著粒度和形貌分析的最高水平,可以對(duì)0.2 ~ 3000微米范圍內(nèi)的樣品進(jìn)行透射、反射和彩色分析,可以提供宏觀、介觀和微觀的顆粒形貌參數(shù),分析參數(shù)多達(dá)80個(gè),具體參數(shù)如下:
l 干法:0.2 μm-3000 μm; 濕法:0.2μm-300 μm
l 完全符合ISO-13322-1規(guī)范
l 無(wú)需理論及樣品參數(shù)設(shè)定, 給出最真實(shí)的分析結(jié)果
l 干法和濕法兩用, 具備顆粒計(jì)數(shù)功能
l 分析快速、操作簡(jiǎn)便,80個(gè)以上粒徑和形貌分析參數(shù)
l 不僅可利用透射光分析,還可以利用反射光進(jìn)行分析
二、DT-1202 超聲粒度和zeta電位分析儀:
美國(guó)分散科技公司(Dispersion Technology,Inc,DTI)專注于非均相體系表征的科學(xué)儀器業(yè)務(wù)。 DTI開(kāi)發(fā)的基于超聲法原理的儀器主要應(yīng)用于在原濃的分散體系中表征粒徑分布、 ζ電位、流變學(xué)、固體含量、孔隙率,包括CMP漿料,納米分散體,陶瓷漿料,電池漿料,水泥家族,藥物乳劑等,并可應(yīng)用于多孔固體,是高濃度、高粘度或有色膠體體系的最佳測(cè)量手段。
應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)有的DT-1202 超聲粒度和zeta電位分析儀實(shí)際是一臺(tái)高度集成的超聲/電聲譜分析儀,不僅可以測(cè)定原濃體系黑色漿料的粒度分布和zeta電位(粒度范圍:5nm~1mm,體積濃度可達(dá)50%),適應(yīng)高粘度樣品的測(cè)定(可達(dá)20,000 cP),而且可在一臺(tái)儀器上完成pH、溫度、電導(dǎo)率及流變性質(zhì)的測(cè)定。該儀器可同時(shí)執(zhí)行ISO 20998/ ISO13099標(biāo)準(zhǔn),利用電學(xué)和聲學(xué)方法,可以在分散液、微乳液、具有液體分散介質(zhì)的多孔材料等多相體系中測(cè)定Zeta電位。對(duì)Zeta電位值和分散相的質(zhì)量分?jǐn)?shù)(包括稀釋和濃縮體系)沒(méi)有限定,顆粒粒徑和孔徑大小可以在微米量級(jí)或納米范圍,對(duì)顆?;蚩紫兜膸缀涡螤钜矝](méi)有特殊的限制。液體分散介質(zhì)可以是水相或者非水相,可具有任意的液體電導(dǎo)率、介電常數(shù)或化學(xué)成分。顆粒自身可以導(dǎo)電也可以不導(dǎo)電,膠體的雙電層可以分離也可以互相重疊,雙電層厚度或其它性質(zhì)沒(méi)有限制。因此,對(duì)于電池漿料及其類似體系具有廣泛的適用性。除此之外,我們還可以計(jì)算在ISO13099標(biāo)準(zhǔn)中與體系顆粒電學(xué)性質(zhì)相關(guān)的以下參數(shù):
1. Debye:即德拜長(zhǎng)度(Debye length),電解液中雙電層的特征長(zhǎng)度,單位是nm。它反映了膠體顆粒外層緊密層+擴(kuò)散層的厚度,即雙電層厚度。雙電層厚度可以直接表明膠體顆粒帶電多少、帶電離子水化膜的厚薄和ζ電位的大小,它們直接影響著分散體系的穩(wěn)定性和流變性。
2. Du:杜坎數(shù)(Dukhin number),無(wú)量綱,反映表面電導(dǎo)率對(duì)電動(dòng)、電聲現(xiàn)象及多相體系電導(dǎo)率和介電常數(shù)的貢獻(xiàn),是雙電層極化狀態(tài)的表面過(guò)剩導(dǎo)電率的表征參數(shù)。它描述了顆粒的表面電導(dǎo)率和周圍流體的體電導(dǎo)率之間的比率。
3. Surface charge:雙電層的面電荷密度。單位面積界面上的電荷,由液體體相離子的特異吸附,或表面基團(tuán)解離所致。表面電荷密度的單位是C/ cm2 (庫(kù)倫/厘米2)。
具體可分析項(xiàng)目和參數(shù)見(jiàn)表1
表1 超聲/電聲譜分析儀分析應(yīng)用一覽表
超聲衰減法 | 電聲學(xué)法 | |||||
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | ISO-20998 / GBT 29023 | ISO-13099 / GBT32671 | ||||
測(cè)量項(xiàng)目 | 聲衰減曲線 (1-100MHz) | 縱向流變的聲衰減曲線 (1-100MHz),聲速 | CVI電流強(qiáng)度 CVI電流相位 | CVI電流強(qiáng)度、 水相電導(dǎo)率 | CVI電流、 非水電導(dǎo)率 | |
理論模型 | ECAH等五種理論模型 | Navier-Stokes 理論 | Smoluchowski 經(jīng)典理論 (球形顆粒) | 先進(jìn)CVI水相理論 (任意顆粒) | *非水或納米膠體理論 (任意顆粒) | |
應(yīng)用條件 (假設(shè)) | 是唯一測(cè)定體積黏度的方法。 | - Ka >>1 (標(biāo)準(zhǔn)ka >10) - Du << 1 - 雙電層不重疊 | Ka >3 電導(dǎo)率>0.001 S/m | Ka < 3 電導(dǎo)率<0.001 S/m | ||
計(jì)算參數(shù) | 粒度分布 l 中值粒徑 l 標(biāo)準(zhǔn)差 l 擬合誤差 l 累計(jì)粒度值(Dx)
| 各向同性項(xiàng): l 在1-100MHz頻率范圍內(nèi)的縱向伸縮粘度 l 縱向伸縮粘性模量 G” l 牛頓流體的體積粘度 l 縱向伸縮彈性模量 G’ l 液體壓縮率 l 由聲速導(dǎo)出分散相的體積% l 動(dòng)力粘度 | 各向異性項(xiàng): l 亞微米尺度固體的體積分?jǐn)?shù) l 結(jié)構(gòu)化系統(tǒng)中顆粒鍵合的Hook(胡克)參數(shù) l 微粘度 l 大顆粒散射系數(shù)
| l Zeta電位(mV) l 動(dòng)態(tài)遷移率 l 粒徑(從CVI電流) l 粒徑標(biāo)準(zhǔn)差 l 粒徑(從CVI相位) | l 電導(dǎo)率 l 德拜長(zhǎng)度(1/k) l Ka l Zeta電位 l Du (杜坎數(shù)) l MW弛豫頻率 l 對(duì)導(dǎo)電和非導(dǎo)電顆粒的Henry-Ohshima電泳遷移率 | l 表面電荷密度(C/cm2) l 每個(gè)顆粒上的平均電荷(C/Particle) l Zeta電位(mV) |
測(cè)試范圍 | 5nm -1000um | 介質(zhì)粘度 (cP):可到20,000 介質(zhì)微粘度 (cP):可到100 | Zeta電位:無(wú)限制 | 水相電導(dǎo)率: 0.0001 S/m ~ 10 S/m | 非水電導(dǎo)率: 10-11 S/m ~ 0.0001 S/m |
此外,該儀器還可以通過(guò)電聲電震法測(cè)定多孔材料的孔隙率和表面zeta電位。
儀思奇(北京)科技發(fā)展有限公司致力于在新能源領(lǐng)域、生物醫(yī)藥領(lǐng)域和催化化工領(lǐng)域的新型高端儀器分析技術(shù)的推廣,同時(shí)聯(lián)合高校、企業(yè)以及中科院相關(guān)領(lǐng)域的專家學(xué)者研制和設(shè)計(jì)催化行業(yè)急需的儀器,以儀器分析全面解決方案支撐前沿材料研發(fā)和生產(chǎn)、促進(jìn)科研院所材料研發(fā)成果的產(chǎn)業(yè)化。
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