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復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

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DENS 透射電鏡原位樣品桿

DENS 透射電鏡原位樣品桿
  • 品牌:DENSsolutions 原位樣品桿
  • 產(chǎn)地:荷蘭
  • 關(guān)注度:4301
  • 型號(hào):TEM 熱、電、氣、液、冷凍樣品桿
  • 報(bào)價(jià):100-150萬元
  • 信息完整度:
核心參數(shù)
    產(chǎn)品介紹


    微信圖片_20231115104833.jpg

    DENSsolutions 總部位于荷蘭,專注于提供先進(jìn)的原位電子顯微鏡( In-situ TEM)解決方案,致力于開發(fā)創(chuàng)新的實(shí)驗(yàn)平臺(tái)和設(shè)備,使研究人員能夠在電子顯微鏡下模擬多種實(shí)際工作條件,從而實(shí)時(shí)觀察和分析材料的性質(zhì)和行為。


    DENSsolutions 系列產(chǎn)品在科學(xué)研究和工業(yè)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用,研究人員可以利用這些設(shè)備進(jìn)行材料結(jié)構(gòu)、相變、生長過程、電化學(xué)反應(yīng)等方面的原位觀察,在材料性能、催化、電化學(xué),納米技術(shù)和材料合成等許多領(lǐng)域都具有廣泛的應(yīng)用。


    產(chǎn)品選型

    01 Arctic TEM 原位冷凍熱電樣品桿


    Arctic (2).png

    Lightning Arctic TEM 原位冷凍熱電樣品桿是 DENSsolutions 全新升級(jí)創(chuàng)新的原位解決方案,可以在冷卻或加熱樣品的同時(shí),對(duì)其施加可控的電學(xué)刺激,并以原子級(jí)分辨率在透射電鏡下觀察樣品的實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)過程。



    主要性能參數(shù)

    1

    系統(tǒng)操控模式:冷凍&加電,加熱&加電

    2

    可運(yùn)行的溫度范圍:≤ -160 ℃ - 800 ℃

    3

    冷凍方式:外置液氮罐

    4

    冷卻和穩(wěn)定時(shí)間≤ 60 min

    5

    分辨率:≤ 1 ?取決于透射電子顯微鏡配置)

    6

    可達(dá)到的電流范圍:1 pA - 100 mA



    02 Lightning TEM 原位熱電樣品桿


    Lightning 小程序主圖.jpg

    Lightning 原位熱電樣品桿可在精確控制加電和加熱環(huán)境的同時(shí)觀察樣品變化的實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)過程。Lightning 能夠在進(jìn)行熱學(xué)研究的同時(shí),在 pA 電流靈敏度下進(jìn)行 I-V 測(cè)試,其搭配的 Nano-Chip 芯片能在 900 ℃ 高溫下同時(shí)實(shí)現(xiàn)高于 300 kV/cm 的電場(chǎng),芯片擁有多種配置,能夠滿足不同的實(shí)驗(yàn)要求,同時(shí)保持 TEM 的原子級(jí)分辨率成像能力。



    主要性能參數(shù)

    1

    溫度范圍:RT - 1,300 °C

    2

    可達(dá)到的電場(chǎng)范圍:≥ 300 kV/cm at RT/900 °C

    3

    可達(dá)到的電流范圍:1 pA - 100 mA

    4

    可達(dá)到的分辨率:≤ 60 pm

    5

    分辨率:≤ 1 ?取決于透射電子顯微鏡配置)

    6

    漂移率:≤ 0.5 nm/min



    03 Climate TEM 原位氣相加熱

    Climate 小程序主圖.jpg

    Climate 原位氣相加熱樣品桿可在在氣氛環(huán)境下同時(shí)觀察樣品在加熱時(shí)的狀態(tài)變化,能夠在 2 bar 的氣體環(huán)境中進(jìn)行達(dá) 1000 ℃ 的高溫實(shí)驗(yàn),并保持 TEM 的原子分辨率,與 DENS 專有的氣體分析儀集成組合使用,可進(jìn)行反應(yīng)產(chǎn)物分析,是當(dāng)前市場(chǎng)上**支持結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息完全動(dòng)態(tài)關(guān)聯(lián)的原位系統(tǒng)。

    同時(shí)為了滿足客戶研究蒸汽類反應(yīng)物對(duì)材料的影響的實(shí)驗(yàn)要求,我們?cè)O(shè)計(jì)了蒸汽發(fā)生器,能夠單獨(dú)地將蒸氣添加到任何氣體混合物中,并擁有獨(dú)立控制蒸汽參數(shù)的獨(dú)特能力,便于開展相對(duì)應(yīng)的研究,為原位實(shí)驗(yàn)中提供****的實(shí)驗(yàn)自由度。



    主要性能參數(shù)

    1

    加熱范圍:RT - 1,000 °C

    2

    溫度穩(wěn)定性≤ ± 0.01 °C

    3

    分辨率:≤ 100 pm(取決于透射電子顯微鏡配置)

    4

    漂移率≤ 0.5 nm/min

    5

    氣體輸入管線:3

    6

    氣體流量范圍(標(biāo)準(zhǔn)化):0, 0.01-1 ml / min



    04 Stream TEM 原位液相加熱/加電樣品桿


    Stream 小程序主圖.jpg

    Stream 原位液相加熱/加電系統(tǒng)為材料科學(xué)、化學(xué)和生物學(xué)中各類研究提供了全新的觀察視野。其獨(dú)特設(shè)計(jì)的 Nano-Cell 芯片使其對(duì)樣品加熱或加電時(shí)可獨(dú)立控制流速和液體厚度。

    同時(shí)全新升級(jí)可集合組裝的液體供應(yīng)系統(tǒng) (LSS) ,引入了精準(zhǔn)控制和可重復(fù)使用的惰性氣體吹掃能力。通過吹掃,可以迅速去除樣品中多余的液體,從而實(shí)現(xiàn)高分辨成像、有價(jià)值的元素分析和電子衍射。并且液體供應(yīng)系統(tǒng) (LSS)能夠主動(dòng)測(cè)量液體流量,便于比較不同的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。此外,這意味著可以很容易地發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)中潛在的堵塞,并迅速采取行動(dòng),能夠高效和有效地利用 TEM 機(jī)時(shí)。這些獨(dú)特的設(shè)計(jì)為原位液相實(shí)驗(yàn)的原子級(jí)分辨像和高質(zhì)量的 EDS、EELS 結(jié)果帶來了新的可能性。



    主要性能參數(shù)

    1

    溫度范圍:RT - 100 °C

    2

    液體模式:靜態(tài)液體、流動(dòng)液體

    3

    液體流量測(cè)量:可測(cè)量,通過入口液體流量計(jì)

    4

    液體厚度控制:可控制,通過入口和出口液體壓力控制

    5

    可達(dá)到的分辨率 :≤ 3 ? (取決于透射電子顯微鏡配置)

    6

    可達(dá)到的電場(chǎng)范圍:1 pA - 100 mA




    05 Wildfire TEM 原位加熱樣品桿


    Wildfire 小程序主圖.jpg

    Wildfire 原位加熱樣品桿旨在探索材料在極端高溫下的反應(yīng)和狀態(tài)變化而設(shè)計(jì),其優(yōu)越的穩(wěn)定性超越了市場(chǎng)上大部分的同類產(chǎn)品,溫度范圍**可達(dá) 1300 ℃,并在所有的方向上保證優(yōu)異的溫度控制性和樣品穩(wěn)定性,確保了在高溫下觀察樣品動(dòng)態(tài)變化過程,且 TEM 保持**的分辨率和分析性能。

    **設(shè)計(jì)的 Nano Chip 芯片和獨(dú)有的四點(diǎn)探針法可快速反饋溫度變化情況,從而實(shí)現(xiàn)即時(shí)穩(wěn)定和精確的溫度控制,避免出行加熱不均勻或熱反饋不及時(shí)的問題。對(duì)于需要進(jìn)行高溫下三維重構(gòu)研究的客戶,可選擇配備了 α 傾轉(zhuǎn)角高達(dá) 70° 的樣品桿,以便進(jìn)行多方位的研究。



    主要性能參數(shù)

    1

    加熱控制:四探針法

    2

    溫度范圍:RT - 1,300 °C

    3

    溫度均勻性:≥ 99.5 %

    4

    分辨率:≤ 60 pm取決于透射電子顯微鏡配置)

    5

    漂移率:≤ 0.5 nm/min

    6

    視野范圍:850 μm2



    DENS 軟件系統(tǒng):Impulse 集成軟件


    Impulse 軟件讓研究人員可以完全控制實(shí)驗(yàn)條件,只需在電腦上設(shè)置好所需的原位觀測(cè)實(shí)驗(yàn)條件,Impulse 將完成剩下的工作。在原位 TEM 實(shí)驗(yàn)期間,軟件將根據(jù)設(shè)置好的條件進(jìn)行實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證過程,而您只需專注于實(shí)驗(yàn)結(jié)果,同時(shí)軟件上可以存儲(chǔ)您的實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì),以便重現(xiàn)實(shí)驗(yàn)過程。



    軟件特征和優(yōu)勢(shì):

    Laptop-800.jpg

    01.智能自動(dòng)化:在實(shí)驗(yàn)過程中,您可以專注于其他事情,而智能自動(dòng)化會(huì)跟蹤測(cè)量結(jié)果并確保滿足所設(shè)置的樣品條件。


    02.靈活的數(shù)據(jù)儀表板Impulse 在排列和調(diào)整圖表大小方面為您提供了極大的靈活性,可輕松掌握任何數(shù)據(jù)細(xì)節(jié)。


    DM-importer2.png

    03數(shù)據(jù)整合:軟件支持將您的原位環(huán)境條件實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)與其他數(shù)據(jù)同步,并在幾秒鐘內(nèi)為您的相機(jī)和探測(cè)器圖像提供環(huán)境條件注釋。

    For-website.png

    04.實(shí)驗(yàn)自由:Impulse 軟件支持您使用自己創(chuàng)建的 Python 腳本進(jìn)行獨(dú)特的實(shí)驗(yàn)控制。您可以選擇創(chuàng)建自己的腳本,或者使用我們的預(yù)制腳本,甚至可以在線訪問數(shù)千個(gè) Python 模塊。這種實(shí)驗(yàn)自由將使您能夠擴(kuò)展研究范圍并開展您的創(chuàng)造性實(shí)驗(yàn)控制。


    全新升級(jí)的 FIB 樣品臺(tái)


    DENSsolutions 現(xiàn)在推出了第三代 FIB 制樣樣品臺(tái),此設(shè)備可以幫助您更簡單、更安全、更快捷地制備薄片樣品,適配 DENS 樣品桿芯片。

    FIB-stub-GIF.gif

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    工商信息

    企業(yè)名稱

    復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

    企業(yè)類型

    有限責(zé)任公司(自然人投資或控股)

    信用代碼

    91310115594714659N

    法人代表

    樊麗麗

    注冊(cè)地址

    上海市閔行區(qū)申濱路88號(hào)704單元

    成立日期

    2012-04-19

    注冊(cè)資本

    500萬(元)

    有效期限

    2012-04-19 至 2042-04-18

    經(jīng)營范圍

    一般項(xiàng)目:儀器儀表、實(shí)驗(yàn)室設(shè)備、電子產(chǎn)品及相關(guān)零配件的研發(fā)和銷售;從事儀器儀表技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開發(fā)、技術(shù)推廣、技術(shù)咨詢、技術(shù)轉(zhuǎn)讓、技術(shù)服務(wù)、技術(shù)交流;貨物進(jìn)出口;技術(shù)進(jìn)出口;信息咨詢服務(wù)(不含許可類信息咨詢服務(wù))。(除依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目外,憑營業(yè)執(zhí)照依法自主開展經(jīng)營活動(dòng))
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    復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司,2012 年創(chuàng)立于上海,為高校,企業(yè)和研究所提供臺(tái)式掃描電子顯微鏡,及與臺(tái)式掃描電鏡相關(guān)的技術(shù)支持和測(cè)試服務(wù)。復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司成立以來,一直專注顯微技術(shù),致力于實(shí)現(xiàn)掃描電鏡平民化。飛納電鏡——復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司為用戶提供從掃描電鏡基礎(chǔ)理論到 Level 5 應(yīng)用工程師的進(jìn)階培訓(xùn),在上海、北京、廣州、成都設(shè)立了測(cè)試中心和售后服務(wù)中心,目前飛納電鏡在中國已經(jīng)擁有超過 2000 名用戶。2017 年起,復(fù)納科技與荷蘭 Si

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