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楊正紅總經(jīng)理連任顆粒表征標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)分委會(huì)委員
儀思奇北京科技發(fā)展有限公司 2023-08-17 點(diǎn)擊1299次
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2023年8月11日至13日，全國(guó)顆粒表征與分檢及篩網(wǎng)標(biāo)委會(huì)顆粒分技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC168/SC1）換屆大會(huì)暨年度工作會(huì)議在全國(guó)工業(yè)的一面旗幟——大慶油田有限責(zé)任公司勘探開發(fā)研究院舉行。
在此次會(huì)議上，楊正紅總經(jīng)理當(dāng)選為第三屆顆粒分技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC168/SC1）委員。在本次會(huì)議上，與會(huì)委員審查了國(guó)標(biāo)《顆粒 粒度分析 彩色圖像法》英文版及《顆粒 質(zhì)量一致性評(píng)價(jià)指南》等指導(dǎo)性技術(shù)文件。在國(guó)標(biāo)新項(xiàng)目建議審查中，蔡小舒教授提出的《納米顆粒非球體度測(cè)量 偏振光散射法》引起了熱烈反響，大家一致認(rèn)為這是納米及亞微米顆粒形狀測(cè)量的一個(gè)突破。
會(huì)議期間，還舉行了ISO/TC24/SC4 （篩分法以外的粒度分析方法）2023年10月秋季年會(huì)的預(yù)備工作會(huì)議。楊正紅總經(jīng)理作為ISO專家委員，將參加第一工作組（分析數(shù)據(jù)的表示，WG1）、第三工作組（孔徑分布和孔隙率，WG3）、第八工作組（圖像分析法，WG8）以及第十七工作組（zeta電位測(cè)定方法，WG17）的工作會(huì)議。
