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11月9日上午，第十二屆全國顆粒測試學術(shù)會議暨2019 全國粉體測試技術(shù)應用研討會在杭州召開，本次會議的主辦單位是中國顆粒學會顆粒測試專業(yè)委員會。會議邀請了行業(yè)內(nèi)的專家、學者為大家?guī)砭蕡蟾?，會議旨在召集顆粒測試行業(yè)內(nèi)人士共同探討顆粒測試的研究進展、技術(shù)難點及應用。會議現(xiàn)場如火如荼，與會人員熱情高漲。

會上，珠海真理光學儀器有限公司首席科學家張福根博士做了“粉體中（最）大粒的科學表征方法探討”的主題報告，提出最大粒的表征問題，真實的最大粒本質(zhì)上是不可測得。能測視場內(nèi)最大粒（BPVF）的粒度儀包括：電阻法顆粒技術(shù)器、顆粒圖像處理儀、沉降法粒度儀、其他計數(shù)型的粒度儀，并指出激光粒度儀不能測BPVF。

中國計量大學肖剛書記、中國顆粒學會王體壯秘書長、中國顆粒學會顆粒測試專委會主任委員、天津商業(yè)大學校長葛寶臻教授為本次大會致辭。

11月10日，大會還頒發(fā)了顆粒測試獎和優(yōu)秀論文獎。其中丹東百特儀器有限公司、中國檢驗檢疫科學研究院、北京市理化分析測試中心獲得一等獎，中國科學院過程工程研究所獲得顆粒測試獎二等獎；呂且妮、黃鷺、蔡玳菁、張晨雨、王宵宵獲得優(yōu)秀論文獎。

真理光學作為一家專注于顆粒表征分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)和銷售的顆粒表征分析技術(shù)企業(yè)，為客戶提供從納米到微米，從固體顆粒到乳液、噴霧，全面的顆粒表征儀器和應用解決方案！開發(fā)了新一代超高速智能激光粒度分析系統(tǒng)：LT3600系列、LT2200系列、LT2100系列，新一代精度納米粒度和Zeta電位分析系統(tǒng)Nanolink S900，超高速實時噴霧粒度儀Spraylink系列。