華璞恒創(chuàng)儀器科技(北京)有限公司
已認(rèn)證
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全自動(dòng)雙站化學(xué)吸附儀CM8320
ChemiMaster 8320(CM8320)系列儀器基于動(dòng)態(tài)技術(shù)可進(jìn)行TPD(程序升溫脫附)、TPR(程序升溫還原),TPO(程序升溫氧化)、脈沖化學(xué)吸附測(cè)金屬分散度、蒸汽吸附、BET單點(diǎn)比表面積的物理吸附分析、多組分競(jìng)爭(zhēng)性吸附,用于測(cè)定催化劑材料的酸堿量、酸堿強(qiáng)度、貴金屬分散度、氧化還原性能、多組分競(jìng)爭(zhēng)性吸附等重要指標(biāo)。
儀器主要技術(shù)參數(shù)及優(yōu)勢(shì)
●雙站設(shè)計(jì),每個(gè)工作站獨(dú)立運(yùn)行,每個(gè)工作站管路并聯(lián)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
●MFC數(shù)量:4
●TCD數(shù)量:2個(gè)
●反應(yīng)爐工作溫度范圍:室溫~1200℃,可選配低溫裝置
●反應(yīng)爐溫度測(cè)控方式:采用“床溫”和“爐溫”雙點(diǎn)測(cè)控方式
●樣品溫度測(cè)控方式:獨(dú)立的溫度傳感測(cè)量與控制
●檢測(cè)器類型:線性度良好的萊鎢合金高靈敏熱導(dǎo)檢測(cè)器TCD
●儀器內(nèi)部整體保溫:**可達(dá)300℃
● 氣體管路數(shù):8路氣體,自由切換
● 氣體流速范圍:5~100 SCCM
● 軟件顯示:程序升溫實(shí)時(shí)顯示,閥門狀態(tài)實(shí)時(shí)顯示
●質(zhì)譜取氣端口:位于樣品管出氣口位置,避免氣流干擾
● 安全提醒:具有系統(tǒng)危險(xiǎn)狀態(tài)報(bào)警功能
●多組分競(jìng)爭(zhēng)性氣體吸附,可以進(jìn)入4路氣體
● 蒸汽發(fā)生器: 可以選配蒸汽發(fā)生器,可以進(jìn)行各種蒸汽化學(xué)吸附
● LOOP環(huán):可以選配3種體積以上的LOOP環(huán),*小體積150微升
● 管路材質(zhì)和管徑:配置1/8 英寸的SS 316不銹鋼管路和自動(dòng)六通閥
● 管路保溫:儀器內(nèi)部所有管線和控制閥門均加熱保溫設(shè)計(jì)
●長(zhǎng)寬高:110CM*63CM*83CM
●功率:1500瓦
●重量:150kg
儀器主機(jī)
儀器主機(jī)圖解
儀器選型表
競(jìng)爭(zhēng)性吸附
通過(guò)TPD或脈沖滴定等過(guò)程,可以測(cè)試樣品對(duì)于特定氣體吸附量。但在實(shí)際應(yīng)用中,樣品所接觸到的氣氛通常更為復(fù)雜,不同氣體同時(shí)與樣品接觸時(shí),吸附能力并非簡(jiǎn)單的加和關(guān)系,而有可能表現(xiàn)出不同組分的競(jìng)爭(zhēng)關(guān)系(X組分的存在有可能抑制樣品對(duì)于Y組分的吸附)或協(xié)調(diào)關(guān)系(X組分的存在有可能促進(jìn)樣品對(duì)于Y組分的吸附)。因此對(duì)于實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景,有必要針對(duì)更為復(fù)雜的氣體配比條件,測(cè)試樣品對(duì)于多組分氣體的實(shí)際吸附能力。
TPD:程序升溫脫附
樣品的表面活性位(例如酸中心)吸附探針?lè)肿樱ɡ鏝H3)后,在載氣吹掃下進(jìn)行程序升溫,記錄樣品溫度與載氣濃度的變化,即為TPD測(cè)試譜圖。譜圖中探針?lè)肿拥拿摳椒宓臏囟葘?duì)應(yīng)活性中心的強(qiáng)度,譜圖中探針?lè)肿拥拿摳椒宓拿娣e對(duì)應(yīng)活性中心的數(shù)量。
TPR/TPO:程序升溫還原/程序升溫氧化
TPR用于表征金屬催化劑的還原性。用一定比例的H2/Ar混合氣體作為載氣流過(guò)樣品床層并按照一定速率程序升溫。記錄樣品溫度與載氣濃度的變化,即為TPR測(cè)試譜圖。譜圖中還原峰的溫度對(duì)應(yīng)金屬中心的還原性能,譜圖中還原峰的面積對(duì)應(yīng)金屬中心還原過(guò)程的耗氫量。
TPO與TPR類似,用氧化性氣體代替還原性氣體,用于測(cè)試金屬中心的氧化性能。
脈沖滴定
以脈沖方式向樣品表面定量注入特定的氣體,記錄載氣濃度的變化,未被吸附的氣體將流過(guò)樣品床層并被檢測(cè)器記錄。記錄載氣濃度的變化得到脈沖滴定譜圖,其中記錄到的峰對(duì)應(yīng)于未被吸附的氣體的量,脈沖的次數(shù)對(duì)應(yīng)于總脈沖量,兩者差減就是樣品的吸附量。脈沖滴定用于表征活性金屬面積,分散度,平均晶粒尺寸等參數(shù)。
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