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鍍層的厚度是在鍍層產(chǎn)品品質(zhì)的*重要保證因素。常用的鍍層厚度測量方法包括破壞性和非破壞性兩大類。破壞性測厚法包括陽極溶解庫侖法、金相法、溶解稱重法、液流法、點(diǎn)滴法等;非破壞性測厚法包括機(jī)械量具法、磁性法、渦流法、XRF分析法等。其中，XRF分析法是因其非破壞性、快速性和直接性等特點(diǎn)，是鍍層厚度測量領(lǐng)域中常見的和比較歡迎的方法之一。

TrueX COAT適用于鍍層厚度測量及材料分析，具有無損，可靠，高生產(chǎn)力，高靈活性等優(yōu)點(diǎn)，可用來定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量，廣泛應(yīng)用于電路板、半導(dǎo)體、電鍍、五金產(chǎn)品、汽車零部件、衛(wèi)浴潔具、珠寶等工業(yè)中的功能性鍍層電鍍槽液中的成分濃度分析。