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| 資料名稱： |
《材料表面現(xiàn)代分析方法》 |
| 介紹： |
本書首先在緒論部分介紹了材料表面及其特性以及材料表面分析的主要內(nèi)容，然后在其他章節(jié)介紹了電子與固體樣品的相互作用、電子光學(xué)基礎(chǔ)和研究材料表面常用的現(xiàn)代分析方法，包括透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、電子探針、X射線光電子能譜、俄歇電子能譜、二次離子質(zhì)譜、場離子顯微鏡與原子探針、掃描隧道電子顯微鏡、原子力顯微鏡、掠入射X射線衍射等。對這些表面分析方法的基本原理、儀器結(jié)構(gòu)、技術(shù)特點(diǎn)和應(yīng)用范圍等精華進(jìn)行了較為系統(tǒng)的論述。該書不僅可作為材料科學(xué)與工程專業(yè)研究生教材，以及該專業(yè)本科生教學(xué)參考書，而且對直接從事表面科學(xué)的研究人員、分析測試人員和涉及表面現(xiàn)象的工程技術(shù)人員均有較大的參考價(jià)值。 |
| 出版社： |
化學(xué)工業(yè)出版社 |
| 作者： |
賈賢 |
| 出版日期： |
2009-11-30 |
| 價(jià)格： |
29.0 |
| 折扣價(jià)： |
29.0 |
| 在線訂購：
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