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陣列碳納米管薄膜厚度調控研究

編號:NMJS03426

篇名:陣列碳納米管薄膜厚度調控研究

作者:馬康夫1; 2; 付志兵2; 楊 曦2; 王朝陽2; 唐永建2;

關鍵詞:陣列碳納米管; 厚度; 生長速度;

機構: (1.西南科技大學 材料科學與工程學院,四川 綿陽621010; 2.中國工程物理研究院激光聚變研究中心,四川 綿陽621900);

摘要: 采用化學氣相沉積法制備了陣列碳納米管薄膜,對薄膜生長厚度進行了系統(tǒng)研究。利用掃描電子顯微鏡(SEM)、拉曼光譜(Raman)對樣品形貌以及結構進行了表征。結果發(fā)現(xiàn),在相同的生長時間和一定的催化劑濃度范圍內,陣列碳納米管的薄膜厚度隨催化劑濃度提高而增加;在生長時間相同時,陣列碳納米管薄膜厚度隨載氣流速的增加而降低,且下降趨勢近似為線性;隨著生長時間的增長,陣列碳納米管薄膜的厚度也隨之增加,且在前60min生長速度最快達到24μm/min,60min之后生長速度減緩。

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