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SiO_2鈍化膜中鈉離子的二次離子質(zhì)譜分析

編號(hào):CSJS00088

篇名:SiO_2鈍化膜中鈉離子的二次離子質(zhì)譜分析

作者:馬農(nóng)農(nóng); 何友琴; 王東雪; 陳瀟;

關(guān)鍵詞:鈍化膜; 鈉離子濃度; 二次離子質(zhì)譜分析;

機(jī)構(gòu): 中國電子科技集團(tuán)公司第四十六研究所;

摘要: 采用二次離子質(zhì)譜分析手段,檢測(cè)半導(dǎo)體晶片SiO2鈍化膜中鈉離子的濃度分布,采用標(biāo)樣法,計(jì)算得出相對(duì)靈敏度因子,給出濃度隨深度的定量測(cè)試結(jié)果 ,結(jié)果表明,該方法檢測(cè)靈敏度較高,既給出鈉離子在鈍化膜中的分布,也可以得到面密度,并研究了鈉離子的分布特點(diǎn)。

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