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微立方結(jié)構(gòu)基底上生長碳納米管薄膜的強(qiáng)流脈沖發(fā)射特性

編號:NMJS03790

篇名:微立方結(jié)構(gòu)基底上生長碳納米管薄膜的強(qiáng)流脈沖發(fā)射特性

作者:麻華麗; 張新月; 霍海波; 曾凡光; 王淦平; 向飛;

關(guān)鍵詞:強(qiáng)流脈沖發(fā)射; 碳納米管; 微立方陣列; 線性增加; 穩(wěn)定性;

機(jī)構(gòu): 鄭州航空工業(yè)管理學(xué)院數(shù)理系; 中國工程物理研究院應(yīng)用電子學(xué)研究所,高功率微波技術(shù)重點實驗室;

摘要: 采用酞氰鐵高溫?zé)峤夥椒ㄔ诰哂形⒘⒎浇Y(jié)構(gòu)的化學(xué)鍍鎳硅基底上生長了碳納米管薄膜(Si/Ni-CNTs),并在20GW脈沖功率源系統(tǒng)中采用二極結(jié)構(gòu)對其強(qiáng)流脈沖發(fā)射特性進(jìn)行了研究。研究結(jié)果表明,在單脈沖發(fā)射條件下,隨脈沖電場峰值的增大,Si/Ni-CNTs薄膜的發(fā)射電流峰值呈線性增加,當(dāng)宏觀場強(qiáng)達(dá)到31.4 V/μm時,發(fā)射脈沖電流的峰值可達(dá)到14.74kA,對應(yīng)的發(fā)射電流密度1.23kA/cm2,在相同峰值,連續(xù)多脈沖情況下,碳納米管薄膜具有良好的發(fā)射可重復(fù)性,且發(fā)射性能穩(wěn)定。

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