編號：NMJS04525
篇名：含表界面效應(yīng)的核殼納米線界面失配位錯形核
作者：章的； 劉又文； 趙迎新
關(guān)鍵詞：螺型失配位錯； 核殼納米線； 臨界膜厚度； 表界面效應(yīng)
機(jī)構(gòu)： 湖南大學(xué)汽車車身先進(jìn)設(shè)計制造國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室； 湖南大學(xué)機(jī)械與運(yùn)載工程學(xué)院
摘要： 研究了考慮表面和界面效應(yīng)的核殼納米線材料中螺型失配位錯形核的臨界情況。運(yùn)用復(fù)勢方法獲得了納米線和薄膜區(qū)域復(fù)勢函數(shù)的解析解。主要討論了表面和界面效應(yīng)對核殼納米線中螺型失配位錯形核的影響規(guī)律。研究表明:正(負(fù))表面、界面效應(yīng)會減小(增大)螺型失配位錯形核時所需的膜厚度范圍和臨界剪切模量;當(dāng)其他參量為某些定值時,無論膜厚度為多大,正表面、界面彈性常數(shù)都存在使螺型位錯不能形核的可能;正(負(fù))表面、界面殘余應(yīng)力會增大(縮小)螺型失配位錯形核時所需的膜厚度范圍;正(負(fù))表面、界面效應(yīng)會增大(減小)螺型失配位錯形核時所需的臨界膜厚度和失配應(yīng)變臨界值。
