編號：FTJS04230
篇名：石墨烯的表征方法
作者：彭黎瓊； 謝金花； 郭超； 張東
關鍵詞：
機構： 同濟大學 材料科學與工程學院先進土木工程材料教育部重點實驗室
摘要： 單層石墨烯的厚度為0.335nm,在垂直方向上有約1nm的起伏,且不同工藝制備的石墨烯層數(shù)和結構有所不同,如何有效地鑒定石墨烯的層數(shù)和結構是獲得高質量石墨烯的關鍵步驟之一。介紹了光學顯微鏡、掃描電子顯微鏡(SEM)、透射電子顯微鏡(TEM)、原子力顯微鏡(AFM)、拉曼光譜(Raman)、紅外光譜(IR)、X射線光電子能譜(XPS)和紫外-可見光譜(UV-Vis)等幾種用
