編號(hào)：CSJS00105
篇名：基于納米機(jī)械振子的光學(xué)質(zhì)譜儀
作者：李金金； 賓文； 朱卡的；
關(guān)鍵詞：納米機(jī)械振子； 質(zhì)量測量； 納米碳管； 石墨烯納米帶； 光學(xué)質(zhì)譜儀；
機(jī)構(gòu)： 上海交通大學(xué)物理與天文系,人工結(jié)構(gòu)與量子調(diào)控教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室；
摘要： 納米機(jī)械振子具有超小的質(zhì)量、超高的品質(zhì)因數(shù)和振動(dòng)頻率以及其他優(yōu)點(diǎn),越來越受到人們的關(guān)注和認(rèn)可.隨著納米科技的快速發(fā)展,納米機(jī)械振子逐步進(jìn)入到生物、化學(xué)、物理、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域,成為科學(xué)研究工作者追求高質(zhì)量和高性能材料的輔助系統(tǒng).本文總結(jié)了本課題組近年來對納米機(jī)械振子研究的一個(gè)重要應(yīng)用:納米光學(xué)質(zhì)譜儀.在全光條件下,質(zhì)量測量對象可為中性原子、質(zhì)子、中子,也可為其他化學(xué)分子或生物分子等.我們提供的納米機(jī)械振子材料為納米碳管和石墨烯納米帶.研究發(fā)現(xiàn),基于納米機(jī)械振子的光學(xué)質(zhì)譜儀與傳統(tǒng)的電學(xué)質(zhì)譜儀相比有很多優(yōu)越性,如不會(huì)引發(fā)由電路引起的熱效應(yīng)和能量損失,基于質(zhì)量測量的光學(xué)譜寬更窄等.與單束光探測方法相比,不受頻率高低的限制.此研究工作提出的基于全光學(xué)的質(zhì)量測量方案,打破了電學(xué)測量和單束光領(lǐng)域中的眾多限制,有望更大程度地提高質(zhì)量測量的靈敏度和準(zhǔn)確度,為納米測量領(lǐng)域提供一個(gè)新的平臺(tái).
