編號：NMJS05199
篇名：陽離子表面活性劑對納米SiO_2流體穩(wěn)定性的影響
作者：郭立娟； 宋汝彤； 郭擁軍； 馮茹森； 梁嚴(yán)； 周競達(dá)； 高飛龍；
關(guān)鍵詞：納米SiO2流體； 陽離子表面活性劑； 差示透光率法； 重力沉降法； 穩(wěn)定性；
機(jī)構(gòu)： 西南石油大學(xué)油氣藏地質(zhì)及開發(fā)工程國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室； 阿美遠(yuǎn)東(北京)商業(yè)服務(wù)有限公司； 西南石油大學(xué)化學(xué)化工學(xué)院；
摘要： 通過研究納米SiO2/水納米流體的穩(wěn)定性建立了差示透光率法,并利用差示透光率法和重力沉降法研究了陽離子表面活性劑十四烷基三甲基溴化銨(TTAB)、十六烷基三甲基溴化銨(CTAB)和十八烷基三甲基溴化銨(OTAB)對納米SiO2流體穩(wěn)定性的影響。結(jié)果表明:陽離子表面活性劑吸附在納米SiO2顆粒表面后促使納米流體形成凝膠,且不同陽離子表面活性劑對2.5wt%SiO2納米流體穩(wěn)定性的影響均存在三個(gè)臨界濃度C1、C2和C3,這三個(gè)臨界濃度的大小與陽離子表面活性劑疏水鏈長密切相關(guān),碳鏈越長,相應(yīng)臨界濃度越低,并提出了陽離子表面活性劑在納米SiO2表面吸附后納米顆粒之間的疏水締合作用理論。
