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纖蛇紋石制備硅納米線的研究

編號:FTJS05284

篇名:纖蛇紋石制備硅納米線的研究

作者:張紅; 段濤; 劉琨; 涂鴻; 伍華彬;

關鍵詞:纖蛇紋石; 鎂熱還原; 硅納米線;

機構: 西南科技大學-中國工程物理研究院激光聚變研究中心極端條件物質特性聯(lián)合實驗室; 中南大學資源加工與生物工程學院;

摘要: 以天然礦物纖蛇紋石制備的氧化硅納米線為氧化劑和模板,鎂粉為還原劑,采用鎂熱還原法制備了系列硅納米線。利用熱分析儀、X射線衍射儀、掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)對其進行表征。結果表明:溫度對反應產(chǎn)物硅的結構和形貌有顯著影響,隨著溫度的上升,樣品的結晶度先減小后增大;在溫度650℃條件下硅"繼承"了氧化硅納米線的微觀結構,而隨著溫度升高至700℃納米線的結構出現(xiàn)坍塌,形成硅納米顆粒。

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