編號(hào)：FTJS05705
篇名：等離子體發(fā)射光譜法測定的應(yīng)用探析
作者：賈燕；
關(guān)鍵詞：巖石礦物； 二氧化硅； 等離子體發(fā)射光譜法；
機(jī)構(gòu)： 河南省地礦局第二地質(zhì)勘查院；
摘要： 用等離子體發(fā)射光譜法測定巖石礦物中二氧化硅的含量,和其他化學(xué)分析法相比,其克服了常規(guī)化學(xué)分析法工作量大、耗時(shí)長、步驟繁瑣、測量準(zhǔn)確度低等方面的缺點(diǎn),顯著的提高了工作效率以及測量精度與準(zhǔn)確度。文章采用等離子體發(fā)射光譜法測定巖石礦物中二氧化硅的含量,試驗(yàn)結(jié)果表明,二氧化硅的檢出限為0.008 0 mg/L;測定范圍為0.023%~9.2%;方法的精密度均<1.8%。
