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X射線熒光光譜法測試重晶石中的多元素

編號:CSJS00170

篇名:X射線熒光光譜法測試重晶石中的多元素

作者:周國興 ;趙恩好 ;岳明新 ;曹丹紅 ;肖剛 ;張泉

關(guān)鍵詞:X射線熒光光譜 玻璃熔片法 理論α系數(shù)法 重晶石 高頻熔樣機(jī)

機(jī)構(gòu): 沈陽地質(zhì)礦產(chǎn)研究所/中國地質(zhì)調(diào)查局沈陽地質(zhì)調(diào)查中心

摘要: 采用玻璃熔片法制樣,建立了重晶石中多元素X射線熒光光譜分析方法.準(zhǔn)確稱取待測樣品0.5000 g,X射線熒光專用熔劑5.000 g;二者混合后,通過高頻熔樣機(jī)在1150℃進(jìn)行熔片處理8 min;將最終得到的樣片放入干燥器中冷卻至室溫,然后準(zhǔn)確稱取玻璃片質(zhì)量;上機(jī)測試,所得到的數(shù)據(jù)為該元素在玻璃片中的含量;通過換算最終得到實際樣品中的該元素含量.使用理論α系數(shù)法和經(jīng)驗系數(shù)法相結(jié)合來回歸校正共存元素間的吸收增強(qiáng)效應(yīng).本方法對于重晶石中各元素的測試相對標(biāo)準(zhǔn)偏差處于0.2%-4.7%之間,方法檢出限在3.3×10^-6-170.6×10^-6之間.測試數(shù)據(jù)通過與國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)比對,結(jié)果合理.

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