編號：NMJS05589
篇名：納米晶體金剛石涂層／拋光坐標(biāo)測量機(jī)（CMM）測量探爭可降低磨損和提高尺寸精度
作者：張貝貝[1]
關(guān)鍵詞：金剛石涂層工具 坐標(biāo)測量機(jī) 納米晶體 尺寸精度 磨損 拋光 特種氧化鋁 特種材料
機(jī)構(gòu)： [1]邁耶爾什金剛石制品解決方案公司 荷蘭
摘要： 航空航天等工業(yè)領(lǐng)域開始越來越多地使用特種材料，如加強(qiáng)碳、復(fù)合陶瓷和特種氧化鋁等。盡管已經(jīng)可以使用金剛石涂層工具加工這些新材料，但在生產(chǎn)和最終控制階段都要對這些新材料進(jìn)行測量�，F(xiàn)有的CMM測量探測器主要使用紅寶石和硬質(zhì)合金，用現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)掃描測量方法的話，磨損太快，探針每3天需要更換，生產(chǎn)會(huì)被迫中斷，需要等待探針重新校準(zhǔn)。荷蘭金剛石制品解決方案公司開發(fā)的一種納米晶體金剛石涂層拋光的測量探頭，可最小化這些缺點(diǎn)（圖片1）�，F(xiàn)在，它們被用在條件非常嚴(yán)苛的環(huán)境下，像被用來測量復(fù)合陶瓷、磨削后的球軸承、硬化錐齒輪、微晶玻璃、鎳涂層鋁鏡面和其他特種材料等。
