編號:FTJS06038
篇名:X射線熒光光譜法同時測定鋁土礦樣品中鋁硅鐵
作者:張巖[1]
關(guān)鍵詞:X射線熒光光譜法 鋁土礦 鋁硅鐵 測定
機構(gòu): [1]河南省地質(zhì)礦產(chǎn)勘查開發(fā)局第二地質(zhì)礦產(chǎn)調(diào)查院,河南鄭州450001
摘要: 近年來,隨著社會的不斷進步以及經(jīng)濟的迅猛發(fā)展,科技水平顯著提升,X射線熒光光譜分析應(yīng)運而生,其優(yōu)勢在于樣品制作便捷且自動化程度較高、可實現(xiàn)成本節(jié)約、分析精度良好等,在礦山以及地質(zhì)、石油、冶金、商檢籍建材等多領(lǐng)域中獲得普及使用。作為氧化鋁生產(chǎn)的關(guān)鍵原材料,鋁土礦的重要性不容忽視,在其樣品測定過程中可優(yōu)化應(yīng)用X射線熒光光譜分析法,經(jīng)濟效益十分顯著。在此,本文將針對X射線熒光光譜法測定鋁土礦樣品成分鋁硅鐵進行簡要探討。